晶圓代工迎來新的黃金期 近期,以臺積電為代表的幾大晶圓代工廠備受關注,原因在于它們2020年**季度的財報。與各大IDM和Fabless**和*二季度低迷的財報或財測不同,臺積電、聯(lián)電和中芯**這三大晶圓代工廠的業(yè)績十分亮眼,與當下疫情給半導體產(chǎn)業(yè)帶來的負面影響形成了鮮明的對比??磥?,晶圓代工(Foundry)這種商業(yè)模式確有其過人之處。 2019年10月,DIGITIMES Research預估 2019至2024年**晶圓代工產(chǎn)值年復合增長率(CAGR)有望達到5.3%。而突如其來的疫情肯定會拉低這一預估,不過,臺積電對外展現(xiàn)出了較為樂觀的態(tài)度,該公司認為,2019至2024年,不含存儲器的半導體業(yè)年復合增長率有望達到5%,而晶圓代工業(yè)的增長幅度將比整個半導體業(yè)要高一些。不過,受到疫情影響,2020年**半導體業(yè)將呈現(xiàn)同比負增長,這已經(jīng)成為行業(yè)普遍共識。而在這樣低迷的經(jīng)濟環(huán)境下,臺積電預計其全年的營收將實現(xiàn)同比增長15%左右,這是一個很亮眼的數(shù)字了。 晶圓代工業(yè)之所以能夠逆勢增長,首先是由其自身的商業(yè)模式?jīng)Q定的。 在**半導體產(chǎn)業(yè)發(fā)展初期,是不存在IC設計和制造分工的,只有一種IDM模式,隨著市場和產(chǎn)業(yè)發(fā)展,一些規(guī)模較小的廠商,因為財力有限,無法負擔自有晶圓廠,因此,就會把設計的芯片交給實力較為雄厚的IDM制造,這是zui早的代工模型。然而,早期在**保護意識缺乏的情況下,將設計出來的芯片交給其他IDM制造,存在著較大的產(chǎn)品安全風險,即競爭對手很可能會掌握你的芯片信息。 這樣,晶圓代工模式應運而生,1987年,臺積電創(chuàng)建,開創(chuàng)了一個新的時代。自那以后,隨著市場和產(chǎn)業(yè)發(fā)展,無晶圓廠的Fabless數(shù)量逐年增加,給晶圓代工廠帶來了滾滾財源,也因此,更多的Foundry涌現(xiàn)出來,不過,與越來越多的Fabless數(shù)量相比,F(xiàn)oundry的數(shù)量還是相對有限的,直到今天依然如此。畢竟,由于重資產(chǎn)和高技術密集的特點,籌建一家Foundry的難度要遠大于Fabless。 對于Foundry來說,由于長期專注于晶圓代工業(yè)務,且給自己的定位明確,并能持之以恒;另外,這種商業(yè)模式的多客戶、多產(chǎn)品線、多制程特點,比IDM和Fabless較加厚重且多元,某種程度上,其抗風險能力較強。 除了自身特點之外,晶圓代工廠能夠交出亮眼的業(yè)績,且在未來幾年內(nèi)的年復合增長率大概率會**全行業(yè)平均水平,還有多種市場因素,主要包括以下三點:終端設備的芯片元器件用量逐年提升;IDM芯片制造外包業(yè)務增加;設備和互聯(lián)網(wǎng)廠商自研芯片增加。這三大增量市場內(nèi)的芯片大都需要交給晶圓代工廠生產(chǎn),因此,未來幾年Foundry的業(yè)績很值得期待。
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詞條說明
芯片失效分析方法: 1.OM 顯微鏡觀測,外觀分析 2.C-SAM(超聲波掃描顯微鏡) (1)材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu),雜質(zhì)顆粒,夾雜物,沉淀物, (2) 內(nèi)部裂紋。 (3)分層缺陷。(4)空洞,氣泡,空隙等。 3. X-Ray 檢測IC封裝中的各種缺陷如層剝離、爆裂、空洞以及打線的完整性,PCB制程中可能存在的缺陷如對齊不良或橋接,開路、短路或不正常連接的缺陷,封裝中的錫球完整性。(這幾種是芯片發(fā)生失
失效分析是一門發(fā)展中的新興學科,近年開始從**向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術開發(fā)、改進,產(chǎn)品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。其方法分為有損分析,無損分析,物理分析,化學分析等。 原理 失效機制是導致零件、元器件和材料失效的物理或化學過程。此過程的誘發(fā)因素有內(nèi)部的和外部的。在研究失
1.OM 顯微鏡觀測,外觀分析 2.C-SAM(超聲波掃描顯微鏡) (1)材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu),雜質(zhì)顆粒,夾雜物,沉淀物, (2) 內(nèi)部裂紋。(3)分層缺陷。(4)空洞,氣泡,空隙等。 3. X-Ray 檢測IC封裝中的各種缺陷如層剝離、爆裂、空洞以及打線的完整性,PCB制程中可能存在的缺陷如對齊不良或橋接,開路、短路或不正常連接的缺陷,封裝中的錫球完整性。(這幾種是芯片發(fā)生失效后首先使用的非破壞性
開封, 即開蓋/開帽 開封含義: 開封, 即開蓋/開帽, 指去除ic封膠, 同時保持芯片功能的完整無損, 保持 die, bond pads, bond wires乃至lead-frame不受損傷, 為下一步芯片失效分析實驗做準備. 去封范圍:* 普通封裝* COB、BGA * 陶瓷、金屬等其它特殊封裝 芯片開封機介紹: 美國RKD生產(chǎn)的RKD 酸開封機是一臺自動混酸開封機,通過整合了***的特點
公司名: 儀準科技(北京)有限公司
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