FBI偵測用痕跡比對顯微鏡 近年來,痕跡鑒定是刑偵偵破手段中**的一個環(huán)節(jié),相信大家都曾經(jīng)癡迷過TVB警匪片和美國大片,也看到了神勇的警員依靠高科技的設備,在大片里輕松快速進行指紋鑒定、文痕檢測對比、足跡對比、刀具痕跡觀測對比的場景。他們到底使用了什么樣高科技的設備和手段呢? 巨納集團帶你走進公安部物證鑒定中心和美國FBI的實驗室,一起探究這一高科技鑒定手段。美國FBI的法醫(yī)科學家們?yōu)榱丝焖勹b別兩顆彈頭上的摩擦痕跡一致,實驗室里放置了五臺NanoFocus的3D共聚焦顯微鏡,用于刑偵痕跡比對,因為每個槍管是不一樣的,因此當子彈射出去后,子彈上會留有相應的痕跡,利用痕跡比對數(shù)據(jù)進行篩選調(diào)查,當然破案也就變得容易了!此外,由于采用非接觸對比測量,不會破壞刑偵工作中關鍵性證據(jù)的樣品表面,使測試結果較具有說服力。 公安部物證鑒定中心的**技術*在**刑偵大會上指出,它不僅適用于槍彈膛線痕跡,工具線條痕跡,彈殼痕跡,而且還適用于刑事**文字檢驗鑒定,金屬線條同一性鑒定以及其他操作在金屬承痕體上遺留痕跡的檢驗鑒定(如配制鑰匙)。這一痕跡比對系統(tǒng)的推廣應用,對公安機關加強槍支管理,拓寬偵查破案的技術渠道,提升偵查破案的能力,維護社會政治穩(wěn)定,有重要的現(xiàn)實意義。其主要功能作用和社會**如下:(1)可實現(xiàn)對槍支信息的*管理,包括對彈頭彈殼痕跡信息的數(shù)據(jù)化管理,實現(xiàn)國家對槍支管理的跨越式進步;(2)可用于個案單體比對,認定或排除嫌疑槍支和嫌疑作案工具;(3)通過建立數(shù)據(jù)庫可實現(xiàn)跨時空的串并案功能;(4)對涉案的彈頭、彈殼、工具痕跡信息實行數(shù)據(jù)化管理,可避免因破案周期長、重要物證銹蝕、丟失、毀壞的現(xiàn)象;(5)可為偵查和審判提供直觀的科學物證,包括XY二維線條對接圖像和XZ曲線比對圖像;(6)可為刑事**文字檢驗鑒定和其它微小痕跡的檢驗鑒定提供技術支持。 巨納科學儀器事業(yè)部,主要致力于為科研及工業(yè)用戶提供**良好的科學儀器和配件,較**的檢測和分析工具及解決方案,已經(jīng)成為了眾多**和五*企業(yè)的優(yōu)質(zhì)供應商。近十年來,巨納集團和德國Nanofocus共同向**客戶提供了多臺專業(yè)的公安偵測用痕跡比對顯微鏡,已經(jīng)被廣泛用于公安刑偵**部門各種樣品的比對分析,包含:彈道,工具印痕和文件比對等,幫助各級公安機關運用現(xiàn)代科技手段,提升了打擊效率,全面推進了刑偵工作改革。
詞條
詞條說明
12月14日-12月17日,國家認證認可監(jiān)督管理**認證認可技術研究所組織開展了《測量不確定度》培訓,來自全國各地近百位政企代表及檢驗檢測工作者參加了本次培訓。我司下屬泰州石墨烯研究檢測平臺業(yè)務主管羅云代表平臺參加了此次培訓。 培訓老師通過生動簡練、通俗易懂的語言詳細介紹了新版JJF1059-2012——測量不確定度的基礎知識、測量不確定度的評定、直接測量量的不確定度構成、相對不確定度與不確定度
2016年11日-13日,2016中國(重慶)石墨烯應用及產(chǎn)業(yè)化高峰論壇系列活動在位于重慶高新區(qū)的重慶石墨烯產(chǎn)業(yè)園舉行。中國科學院院士錢逸泰、中國工程院院士趙連城、美國醫(yī)學與生物工程院院士李長明等 來自全國的石墨烯領域*和專業(yè)人士300余人參與本次研討活動。丁榮董事長應邀參加了本次活動并參觀了重慶石墨烯產(chǎn)業(yè)園。本次活動旨在深化石墨烯技術研究應用,推動產(chǎn)業(yè)化進程,增強重慶影響力和吸引力,助推國家自
2015年*二次全國石墨烯標準化工作會議暨四項石墨烯標準編制研討會通知
2015年*二次全國石墨烯標準化工作會議 暨四項石墨烯標準編制研討會通知 ? 各相關單位和*: 按照WG03CGS/WT007-2014《原子吸收分光光度計法測定石墨烯中鉀、鈉和錳含量》、WG03CGS/WT008-2014《高碘酸鉀分光光度計法測定氧化石墨烯中錳含量》、WG03CGS/WT005-2015《石墨烯中非金屬元素分析》、WG03CGS/WT009-2015《雙光探測器測
摻雜和缺陷在很大程度上決定了傳統(tǒng)的半導體材料的器件性能。與傳統(tǒng)半導體類似,為了實現(xiàn)二維過渡金屬硫族化合物(TMDCs)材料在電子、光電以及光子器件等領域的應用,需要對這一材料進行可控摻雜和缺陷調(diào)制,從而調(diào)控二維材料的能帶結構,載流子的類型和濃度,進而實現(xiàn)材料的多功能化與器件集成。與傳統(tǒng)半導體材料相比,二維材料只有一層或幾層原子厚度,從而只有一維線缺陷和零維的點缺陷,并且這些缺陷嚴重的影響二維材料的
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