涂鍍層厚度測試的應(yīng)用領(lǐng)域

    涂鍍層厚度測試應(yīng)用領(lǐng)域
    電子、汽車、航空、材料、金屬、陶瓷品等各個制造領(lǐng)域。

    涂/鍍層厚度測量相關(guān)參考標(biāo)準(zhǔn)
    GB/T 6462-2005 金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法
    GB/T16921-2005 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 X射線光譜法
    ASTM B487-1985(2007) 用橫斷面顯微觀察法測定金屬及氧化層試驗(yàn)方法
    ASTM B748-1990(2010) 通過用掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的試驗(yàn)方法

    金屬覆蓋層的厚度及其均勻性是覆蓋層的重要質(zhì)量標(biāo)志,它在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。檢測材料表面的金屬覆蓋層的厚度及其均勻性,有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量,改善工藝,提高效益。

    金屬制件和設(shè)備的表面覆蓋耐蝕非金屬保護(hù)層是金屬防腐蝕的重要手段之一。目的是將金屬 /環(huán)境界面代之以金屬/非金屬層/環(huán)境的界面,利用非金屬材料的耐蝕、抗?jié)B、緩蝕性能保護(hù)金屬免受環(huán)境的侵蝕,從而延長其使用壽命。

    鍍層厚度測試機(jī)構(gòu)、檢測目的:及時了解供應(yīng)商產(chǎn)品質(zhì)量。檢驗(yàn)制造商真實(shí)情況、不定期抽檢、**質(zhì)量可靠性。

    電鍍層的厚度及其均勻性是鍍層質(zhì)量的重要標(biāo)志,它在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。

    厚度測量方法分破壞性測量和非破壞性測量兩大類。屬于破壞性測量的方法有計(jì)時液流法,點(diǎn)滴測厚法,庫侖法,金相法等。

    屬于非破壞性的測量方法有磁性法,渦流法,β射線反向散射法,X-ray法,掃描電鏡法等。
    深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測試,表面粗糙度量測等

  • 詞條

    詞條說明

  • 表面成分分析需要的工具有哪些?

    表面成分分析工具化學(xué)抽提法微譜技術(shù)實(shí)拍--氣相色譜儀微譜技術(shù)實(shí)拍--氣相色譜儀XRF法GC-MSLC-MSICP-MS核磁ICGPCXRD等金屬材料測試常用方法濕法分析直讀光譜(OES)電感耦合等離子體放射光譜(ICP-AES)電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)原子吸收光譜(AAS)手持式XRF

  • 常用熱分析方法對比

    熱分析技術(shù)是在溫度程序控制下研究材料的各種轉(zhuǎn)變和反應(yīng),是一種十分重要的分析測試方法。常用的熱分析方法有:熱重法(TG)、差熱分析法(DTA)、差示掃描量熱法(DSC)。熱重分析法:?熱重分析(Thermogravimetric Analysis,TG或TGA),是指在程序控制溫度下測量待測樣品的質(zhì)量與溫度變化關(guān)系的一種熱分析技術(shù),用來研究材料的熱穩(wěn)定性和組份。TGA在研發(fā)和質(zhì)量控制方面都

  • 什么是表面微觀形貌SEM?

    表面所具有的微觀幾何形狀統(tǒng)稱為表面形貌(surface?topography),?其中表面被定義為-?-種材料與其它材料之間的分界面"?(在工程表面的情況下,一種材料是空氣,另-種為固體材料,例如金屬、塑料等)。固體表面是指固體上代表實(shí)體和周圍環(huán)境邊界的部分。工程表面形貌代表著工件表面的主要外部特征,是由加工過程中的各種工序產(chǎn)生的。一個制件表面的微觀幾何形貌

  • 涂鍍層厚度測試的應(yīng)用領(lǐng)域

    涂鍍層厚度測試應(yīng)用領(lǐng)域電子、汽車、航空、材料、金屬、陶瓷品等各個制造領(lǐng)域。涂/鍍層厚度測量相關(guān)參考標(biāo)準(zhǔn)GB/T?6462-2005?金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法GB/T16921-2005?金屬覆蓋層?覆蓋層厚度測量 X射線光譜法ASTM?B487-1985(2007)?用橫斷面顯微觀察法測定金屬及氧化層試驗(yàn)方法ASTM?

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