“失真”是音頻組件的一個重要特性,它經(jīng)常被列在揚(yáng)聲器,功放和其它音頻聲學(xué)設(shè)備的技術(shù)指標(biāo)中。可不幸的是,這個術(shù)語經(jīng)常被錯誤使用,且許多重要的附加信息也常常被忽略。本文中我們將幫您理清這個概念以及他們的測量方法和正確用法。 首先,并非所有失真都是壞的且難以被接受。某些失真可能是有意制造的,如電子管功放神奇的“軟失真”。不同于晶體管放大器,真空電子管放大器失真主要是和基頻有密切聯(lián)系的偶次諧波失真。這樣產(chǎn)生的聲音非常能取悅?cè)硕? 另一方面,當(dāng)需要錄制語音或者音樂并想盡可能原汁原味將其再現(xiàn)時,失真就不受歡迎了。下面要討論的就是對這類失真的分類和測量。 線性與非線性失真 線性失真指的是在振幅或相位上有變化但不會增加新頻率的失真。 而當(dāng)有新的頻率分量被激發(fā)時的失真是非線性失真。非線性失真才是人們通常說的“失真”。 原始信號 線性失真信號 非線性失真信號 諧波失真與非諧波失真 非線性失真又進(jìn)一步被分為諧波失真和非諧波失真。諧波失真中基頻的所有整數(shù)倍頻率都被考慮進(jìn)來。這就是被稱為 THD (總諧波失真)的經(jīng)典失真測量。在某些特殊應(yīng)用中,會考慮一些特定諧波的數(shù)量。 非諧波失真是那些頻率不是基頻倍數(shù)的失真,也就是 IMD (互調(diào)失真)的情況。 諧波失真頻譜 THD 和 IMD 可以測量 THD 的設(shè)備很多且使用簡單。但這些設(shè)備的一個主要缺點就是頻率范圍很窄,當(dāng)測量高頻信號時,諧波失真就會**出量程。要測得精確結(jié)果,您就需要較寬頻率范圍的測試系統(tǒng)或者測量 IMD。 測量 IMD 時,一般使用兩個或多個獨立頻率和振幅的純音作為測試信號。非線性失真將產(chǎn)生這些輸入頻率倍數(shù)的總和與差異。失真將在整個分析頻段上分布。 測量與計算方法 失真基本都用信號失真比來表示。結(jié)果一般使用百分比(%)或分貝(dB)表達(dá)。信號既可以通過音頻(電路)也可以通過聲學(xué)(聲音)輸入。 常用的 THD 計算方法有兩種。THD IEEE,主要在美國使用,計算失真和基頻比。而基于 IEC 方法的 THD 測量則廣泛使用在美國以外的幾乎所有地區(qū),它計算的是失真與原始信號和失真之和的比率。在早先的測量系統(tǒng)中,信號噪聲常常被加在失真中,產(chǎn)生了 THD+N 值(N 代表噪聲)。在任何情況下,分析帶寬都必須標(biāo)明,因為這對測量結(jié)果有顯著影響。 IMD 測量有三種主要方法。MOD 方法,依據(jù) IEC60268/3 標(biāo)準(zhǔn),使用兩個可選頻率和振幅的信號。測量二階至五階諧波的互調(diào)分量。DFD(差頻失真)和 CCIF 方法有些類似,區(qū)別是兩者頻率非常接近且具有相同的振幅。DIM(動態(tài)互調(diào)失真)方法,經(jīng)常用在功放測試中,引入了額外的方波信號和調(diào)制頻率。 DFD(差頻失真)頻譜 選哪個測量儀器? 簡易的測量系統(tǒng)中失真測量幾乎只能測 THD+N。要進(jìn)行多通道和較復(fù)雜的分析,類似 FX100 音頻分析儀這樣具有寬頻帶和快速信號處理能力的現(xiàn)代測量系統(tǒng)就有必要了。通過 FX-Control 計算機(jī)軟件,所有相關(guān)類型的失真都能依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)方法,快速,可靠,輕松的測量。
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掃描(sweep)法是音頻測量領(lǐng)域常用的測量方法,它可用于描述待測的輸出值隨漸變輸入?yún)?shù)的變化情況。較常用的漸變輸入?yún)?shù)就是標(biāo)準(zhǔn)音頻頻率寬度 20 Hz - 20 kHz。但掃描法遠(yuǎn)不止這些。本文將為您介紹和掃描法有關(guān)的基本概念,并詳細(xì)解釋各類測量方式,參數(shù)和優(yōu)化技巧。 如果把掃描測量的結(jié)果繪制在圖表中,那 Y 軸即表示測量結(jié)果。圖表可根據(jù)所測內(nèi)容加上“響應(yīng)(response)”一詞命名。例如,結(jié)
如果您還未來得及登記參加2012年 5月 25日,PALM EXPO NTi Audio研討會,我們誠摯的邀請您,考慮這所剩不多的席位,可以舒適的與我們分享NTi Audio產(chǎn)品經(jīng)理的研討講座。 ? 新聞 歡迎蒞臨PALM EXPO NTi Audio 展位 2012年 5月 24-27日 PALM EXPO 2012 展位 E19 北京, 中國 ? ? 研討會 &
在參觀 NTi Audio 設(shè)置在法蘭克福專業(yè)燈光音響展的展位時,我們有幸遇到了 Swen Müller,他是一位電子工程師和信號處理*,其作為一系列*文章的作者和測量軟件開發(fā)者,在音頻領(lǐng)域廣受贊譽(yù)。此前,他已經(jīng)離開歐洲十多年之久,我們抓住這次機(jī)會對他進(jìn)行了短暫采訪。 您好,Müller 先生,好久不見。聽說您去了巴西是嗎? 是的,過去 16 年我一直在里約熱內(nèi)盧附近國家計量研究所的聲學(xué)實驗室
NTi Audio 邀請您參加北京 PALM Expo 展研討會
NTi Audio 誠摯邀請您參加 2015年 8月 20日星期四在北京 PALM Expo 展期間的研討會。 FX00 專業(yè)音頻測試系統(tǒng)的實用測量:(14:00 - 15:.00 ) 通過這次研討會,您將學(xué)會如何使用 FX100 一步一步設(shè)置和執(zhí)行簡單的測量。待測體包括揚(yáng)聲器,功放和麥克風(fēng)。 注冊 XL2 音頻與聲學(xué)分析儀測量混響時間 RT60:(15:30 - 16:30) 通過這個研討會,
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