電子元器件為什么要用高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)

時(shí)間：2015-12-08作者：上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司瀏覽：233

	    


	         電子元器件用高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)（PCT）的發(fā)展


	  隨著現(xiàn)代社會(huì)的日益發(fā)展，科技的發(fā)展也是一日千里，科學(xué)的發(fā)展同時(shí)也帶動(dòng)了現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，例如各種電工電子及電鍍等產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊,其所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來(lái)越多樣化，只有嚴(yán)格制定產(chǎn)品的相關(guān)條件,正確選擇產(chǎn)品的環(huán)境保護(hù)措施，才能保證產(chǎn)品在生產(chǎn)和儲(chǔ)存運(yùn)輸中不受損害，在使用的過(guò)程中較具安全性。
  對(duì)材料或產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證其高質(zhì)量所**的重要環(huán)節(jié)，人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是實(shí)際環(huán)境影響的科學(xué)概括，具有典型化、規(guī)范化、使用方便、便于比較等特點(diǎn)。環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗(yàn)的重要性也對(duì)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備提出了較嚴(yán)格的要求。
  高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)是一種由人工模擬高溫、高壓、高濕條件，在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的耐厭性，氣密性。它與大氣條件下的暴露試驗(yàn)相比，具有顯著的優(yōu)點(diǎn)：試驗(yàn)時(shí)間明顯縮短；環(huán)境可以控性高，環(huán)境再現(xiàn)性好；節(jié)約了大量的人力、財(cái)力、物力。 


	  高壓加速老化壽命試驗(yàn)機(jī)除可用于檢測(cè)電子元器件，還適用于*、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)。     


	  綜上所述，惟有正確的把握高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)的功能才能在實(shí)際生產(chǎn)當(dāng)中發(fā)揮其較大的功用。


	  


上海柏毅試驗(yàn)設(shè)備有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,步入式環(huán)境箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 半導(dǎo)體集成電路失效分析檢測(cè)裝備之高低溫試驗(yàn)箱

  ?半導(dǎo)體集成電路失效分析檢測(cè)裝備之高低溫試驗(yàn)箱。電子產(chǎn)品失效分析是一門(mén)新興發(fā)展中的學(xué)科，在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義！下面讓柏毅君根據(jù)多年生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)介紹一下集成電路（CMOS）低溫失效分析與高溫失效檢測(cè)！ ??高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱與恒溫恒濕試驗(yàn)箱屬同類產(chǎn)品，只是叫法不同，高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)

• 電子元器件為什么要用高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)

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