靜電放電ESD測(cè)試的方式

時(shí)間：2020-03-09作者：深圳市啟威測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：2049

靜電放電測(cè)試，即ESD測(cè)試。靜電放電測(cè)試介紹：
帶靜電的物體進(jìn)行放電時(shí)會(huì)產(chǎn)生放電電流，這個(gè)放電電流會(huì)產(chǎn)生短暫的強(qiáng)度很大的電磁場(chǎng)。


放電時(shí)產(chǎn)生短暫的放電電流和相應(yīng)的電磁場(chǎng)可能引起電氣、電子設(shè)備的電路發(fā)生故障，甚至損壞。




特點(diǎn):抗靜電等級(jí)與相對(duì)濕度,材料(抗靜電材料,合成材料)有關(guān),越干燥,電壓越高。
靜電放電測(cè)試目的: 模擬設(shè)備遭受直接來自操作者和對(duì)鄰近物體進(jìn)行靜電放電時(shí)產(chǎn)品的抗干擾能力。
根據(jù)靜電的產(chǎn)生方式以及對(duì)電路的損傷模式不同通常分為四種測(cè)試方式：
人體放電模式(HBM: Human-Body Model)、機(jī)器放電模式(Machine Model)、
元件充電模式(CDM: Charge-Device Model)、電場(chǎng)感應(yīng)模式(FIM: Field-Induced Model)。
但是業(yè)界通常使用前兩種模式來測(cè)試(HBM, MM)。

人體放電方式是因人體的動(dòng)作摩擦產(chǎn)生靜電，如我們穿膠鞋在地毯行走時(shí)，因摩擦使地毯帶正電膠鞋帶負(fù)電，此時(shí)人體腳底會(huì)感應(yīng)而帶正電，同時(shí)使上半身帶負(fù)電，若這時(shí)候如用手接觸半導(dǎo)體電子元件，會(huì)導(dǎo)致該元件損壞。

機(jī)器裝置放電方式較*在自動(dòng)化的控制流程中發(fā)生，因在自動(dòng)化機(jī)器中被絕緣之金屬元件與絕緣體的摩擦、或是絕緣液體或高壓氣體等流過摩擦產(chǎn)生的靜電，當(dāng)能量積累到某程度而對(duì)鄰近形成放電的情形。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：IEC 61000-4-2、GB/T 17626.2-1998

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• 詞條

  詞條說明

• 未知物分析的意義

  未知物分析是指從復(fù)雜的未知化學(xué)品的分析需求出發(fā)，通過綜合的分離、純化技術(shù)處理待測(cè)樣品，得到的各組分再采用不同的分析儀器設(shè)備進(jìn)行定性定量分析，較終確定未知物的名稱及含量。 企業(yè)在新產(chǎn)品研發(fā)、產(chǎn)品配方升級(jí)、產(chǎn)品質(zhì)量控制、異物分析、失效分析等環(huán)節(jié)，需要投入大量的人力物力，而且研發(fā)周期長(zhǎng)，成果轉(zhuǎn)化率低。通過專業(yè)的未知成分分析，可幫助企業(yè)快速了解產(chǎn)品配方體系、縮短其研發(fā)周期，可節(jié)省大量的研發(fā)經(jīng)費(fèi)，并降低企業(yè)

• 高加速老化HAST測(cè)試的試驗(yàn)類別有哪些？

  HAST高加速老化測(cè)試是一個(gè)高度加速，以溫度和濕度為基礎(chǔ)的可靠性試驗(yàn)方法.HAST也稱為壓力測(cè)試（PCT）或不飽和壓力試驗(yàn)（USPCT）。HAST高加速老化測(cè)試目的是為了提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間，因此用來確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間。測(cè)試范圍：IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材

• 冷熱沖擊測(cè)試的目的

  冷熱沖擊試驗(yàn)又名溫度沖擊試驗(yàn)或高低溫沖擊試驗(yàn)，是用于考核產(chǎn)品對(duì)周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是裝備設(shè)計(jì)定型的鑒定試驗(yàn)和批產(chǎn)階段的例行試驗(yàn)中不可缺少的試驗(yàn)，在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)?？梢哉f冷熱沖擊試驗(yàn)箱在驗(yàn)證和提高裝備的環(huán)境適應(yīng)性方面應(yīng)用的頻度僅次于振動(dòng)與高低溫試驗(yàn)。實(shí)際上冷熱沖擊試驗(yàn)箱作為一種工具，應(yīng)用在產(chǎn)品研制的不同階段時(shí)的目的是不同的：1、工程研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和工藝缺

• 鹽霧測(cè)試常見標(biāo)準(zhǔn)匯總有哪些？

  鹽霧測(cè)試常見標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.17《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法》 1、適用于比較具有相似結(jié)構(gòu)的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力。 2、適用于評(píng)定保護(hù)性涂層的質(zhì)量以及均勻性。 ? 對(duì)于設(shè)備以及零部件，試驗(yàn)Kb提供了較符合實(shí)際情況的試驗(yàn)條件以及單個(gè)試樣的評(píng)定方法。但如果某些情況下為了確保質(zhì)量，相關(guān)規(guī)范要求個(gè)別試樣采用本試驗(yàn)方法時(shí)，試樣應(yīng)當(dāng)作為整個(gè)組件或者設(shè)備的組成部分