高加速老化HAST測試的試驗類別有哪些？

時間：2020-03-09作者：深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：526

HAST高加速老化測試是一個高度加速，以溫度和濕度為基礎(chǔ)的可靠性試驗方法.




HAST也稱為壓力測試（PCT）或不飽和壓力試驗（USPCT）。HAST高加速老化測試目的是為了提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多為了提高試驗效率、減少試驗時間。




測試范圍：IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等。




HAST高加速老化測試的試驗類別有：

1、低溫步進應(yīng)力試驗

2、高溫步進應(yīng)力試驗

3、快速熱循環(huán)試驗

4、振動步進應(yīng)力試驗

5、綜合應(yīng)力試驗

6、工作應(yīng)力測試




設(shè)備參數(shù)：

設(shè)備內(nèi)尺寸: 255*255*318mm

壓力范圍: 0.02~0.392MPa




溫度范圍：(105.0~162.2)℃

濕度范圍：(75~100)%RH




HAST高加速老化測試相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：

1、IEC 60068-2-66:1994（Environmental testing-part2 :test methods-test Cx: damp heat，steady state(unsaturated pressurized vapour)







2、GB/T2423.40-1997

電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗 *二部分：試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱


深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于高加速老化HAST測試,靜電放電ESD測試,深圳冷熱沖擊測試,深圳中性鹽霧測試,深圳快速溫變測試,深圳材料拉伸試驗等

• 詞條

  詞條說明

• 冷熱沖擊測試的目的

  冷熱沖擊試驗又名溫度沖擊試驗或高低溫沖擊試驗，是用于考核產(chǎn)品對周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是裝備設(shè)計定型的鑒定試驗和批產(chǎn)階段的例行試驗中不可缺少的試驗，在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗?？梢哉f冷熱沖擊試驗箱在驗證和提高裝備的環(huán)境適應(yīng)性方面應(yīng)用的頻度僅次于振動與高低溫試驗。實際上冷熱沖擊試驗箱作為一種工具，應(yīng)用在產(chǎn)品研制的不同階段時的目的是不同的：1、工程研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計和工藝缺

• 高加速老化HAST測試標(biāo)準(zhǔn)

  halt高加速壽命測試包括：ac/dc電壓測試溫度階梯應(yīng)力測試高溫變率熱沖擊應(yīng)力測試振動測試電壓/熱沖擊/振動復(fù)合應(yīng)力測試hass高加速應(yīng)力篩選hasa高加速應(yīng)力稽核高加速老化試驗(hast)測試標(biāo)準(zhǔn)：environmental testing-part2 :test methods-test cx: damp heat，steady state(unsaturated pressurized v

• 未知成分分析的作用

  未知成分分析（也稱為“未知物剖析”）是通過綜合的分離和分析手段對復(fù)雜的未知化學(xué)品的成分進行定性和定量分析，為科研、配方研究、產(chǎn)品開發(fā)、改進生產(chǎn)工藝提供科學(xué)依據(jù)，為企業(yè)引進、消化吸收再創(chuàng)新提供強大的技術(shù)支撐。未知成分分析指通過譜圖對未知成分進行分析的技術(shù)方法。該技術(shù)類似于法學(xué)界“反向工程”，通過對目標(biāo)產(chǎn)品進行拆解、測試、重組從而達到還原的目的。實際過程常常采用激光飛秒檢測技術(shù)進行快速跟蹤、分析、較新

• 高加速老化HAST測試的試驗類別有哪些？

  HAST高加速老化測試是一個高度加速，以溫度和濕度為基礎(chǔ)的可靠性試驗方法.HAST也稱為壓力測試（PCT）或不飽和壓力試驗（USPCT）。HAST高加速老化測試目的是為了提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多為了提高試驗效率、減少試驗時間。測試范圍：IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材