南昌星楓儀器涂層測厚儀選購標(biāo)準(zhǔn)

時間：2016-01-08作者：南昌星楓儀器有限公司瀏覽：144

涂層測厚儀

涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量**的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。

對材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)國家和**標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating)。

涂層測厚儀 覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品**化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測量方法主要有:楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中**種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

涂層測厚儀 X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測較薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

涂層測厚儀 隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且**，是工業(yè)和科研使用較廣泛的測厚儀器。

采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。

產(chǎn)品型號：leeb210

產(chǎn)品名稱：leeb210涂層測厚儀

產(chǎn)品貨號：

產(chǎn)品價格：0

產(chǎn)品品牌：星楓儀器

產(chǎn)品類別：物理性質(zhì)檢測儀器

涂層測厚儀leeb210

覆層測厚儀采用磁性和電渦流兩種測量方法，可無損地檢測磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)，以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。

涂層測厚儀leeb210技術(shù)參數(shù)：

leeb 210

leeb211

測頭類型

F1

N1

工作原理

磁感應(yīng)

電渦流

測量范圍

0~1000μm

低限分辨率

0.1μm

示值誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)

±（3%H+1）

二點(diǎn)校準(zhǔn)

±[（1~3%)H+1]

測試條件

小曲率半徑mm

凸1.5

小面積直徑mm

Φ7

基本臨界厚度mm

0.5

工作環(huán)境

溫度

0~40℃

濕度

20%~90%

磁場

無強(qiáng)磁場環(huán)境

電源

AAA型堿性電池1.5V兩節(jié)

外形尺寸

115×70×30mm（主機(jī)）

重量

130g





南昌星楓儀器有限公司專注于測距儀,涂層測厚儀,超聲波測厚儀,里氏硬度計,測振儀等

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