多路光譜儀事實(shí)上也是大伙兒常說的PMT光譜儀,光柵尺光譜儀事實(shí)上也是大伙兒所說的CCD全譜光譜分析儀光譜儀,前邊一種的話容量大,增加安全通道相對(duì)艱辛,而且耗費(fèi)高,CCD光譜儀屬于全譜光譜分析儀,身型小,可隨便移動(dòng),而且可以隨便增加譜線,幾乎不導(dǎo)致耗費(fèi),這也是二者簡(jiǎn)單的不一樣。各自優(yōu)點(diǎn)下面簡(jiǎn)單也簡(jiǎn)易的列舉了以下,供您參考:
D全譜光譜分析儀光譜儀剖析;方便快捷增加基體和剖析元素種類。
D升級(jí)方便快捷,*變動(dòng)系統(tǒng)配置,只增加分析程序,節(jié)省成本。
D比照于PMT后半期專業(yè)性價(jià)格低。PMT專業(yè)光譜儀后邊增加剖析基體通常是不大可能的,即使能增加基體,也**于增加1個(gè)或2個(gè),增加基體因遭到其物理室內(nèi)空間設(shè)計(jì)限制,預(yù)期效果也不是很好,而且耗費(fèi)高。
D光柵尺光譜儀焦距范圍短占據(jù)空間小,光程短,光的虧本就很少。
D標(biāo)尺密度一般在3000-3600,光電探測(cè)器一般在2400-3600.分光預(yù)期效果較強(qiáng)
PMT的優(yōu)點(diǎn):
1. PMT光譜儀受工作上溫度的傷害比CCD小,CCD在工作溫度高的情形下非常容易造成噪聲
2. PMT的檢測(cè)精度比CCD高稍高
3. PMT采用好多個(gè)安全通道,獨(dú)立一個(gè)常見問題是否可以運(yùn)用其他的安全通道檢驗(yàn),CCD因?yàn)槭仟?dú)立一個(gè)電子器件,發(fā)現(xiàn)異常的話僅有拆卸一整塊電子元器件。
詞條
詞條說明
磁感應(yīng)原理早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用**設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí))?,F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,分辨率達(dá)到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來精確測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑
鍍層厚度測(cè)試儀的工作原理是鍍層厚度測(cè)試儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強(qiáng)度來。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度,因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí),鍍層厚度測(cè)試儀測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。鍍層厚度測(cè)試儀優(yōu)勢(shì):耐腐蝕性驗(yàn)證所用涂料的厚度和化學(xué)性,以確保在惡劣環(huán)境中的產(chǎn)品功能和壽命。小的緊固件或大組件都可輕松處理。
光譜儀又稱分光儀,廣泛為人知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測(cè)器測(cè)量譜線不同波長位置強(qiáng)度的裝置。它由一個(gè)入射狹縫,一個(gè)色散系統(tǒng),一個(gè)成像系統(tǒng)和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進(jìn)行強(qiáng)度測(cè)定。分為單色儀和多色儀兩種。利用光譜儀可測(cè)量物體表面反射的光線。陽光中的七色光是肉眼能分的部分(可見光),但若通過光譜儀將陽光分解
便攜式VOCs泄漏檢測(cè)儀為何常選PID原理近日,全國各地**針對(duì)**VOCs泄漏探測(cè)器的采購量有了很大的提高。原因是《2020年揮發(fā)性**物治理方案》的制定提到,執(zhí)法設(shè)備水平必須提高,應(yīng)配備幾種攜帶探測(cè)器,包括攜帶探測(cè)器VOCs泄漏探測(cè)器。目前市場(chǎng)上很受歡迎VOCs泄漏檢測(cè)儀主要有兩種原理,一種是PID(光離子)原理,另一個(gè)是FID(氫火苗正離子)原理。但在某些檢測(cè)環(huán)境和環(huán)境下,PID原理的V
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