Chroma8000電源模塊集成測(cè)試系統(tǒng)

時(shí)間：2020-02-11作者：深圳市全華電子有限公司瀏覽：98

Chroma8000電源模塊集成測(cè)試系統(tǒng)

Chroma 8000電源模塊自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)大大方便了電源模塊的測(cè)試過(guò)程,作為一種通用測(cè)試設(shè)備并不一定完全符合各種測(cè)試要求。通過(guò)對(duì)測(cè)試程序及數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的分析了解,對(duì)測(cè)試程序進(jìn)行一定優(yōu)化,對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的分析進(jìn)行數(shù)據(jù)輸出處理。

深圳市全華電子有限公司現(xiàn)貨供應(yīng)二手Chroma8000測(cè)試系統(tǒng)，可根據(jù)客戶的不同需求搭配不同的內(nèi)部配置，以滿足不同領(lǐng)域的客戶需求。公司有專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，可提供即時(shí)技術(shù)支持和完善的售后保修服務(wù)。

Chroma8000自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展趨勢(shì),以及ATS開發(fā)平臺(tái)Chroma8000系統(tǒng)的特點(diǎn)。闡述了OBCM的關(guān)鍵電氣性能指標(biāo)和測(cè)試方法。使用指數(shù)平均和移動(dòng)平均的數(shù)據(jù)采集方法創(chuàng)建了基于Chroma8000的OBCM自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),解決了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試效率低、量測(cè)誤差大的問(wèn)題。工廠端大批量產(chǎn)品的測(cè)試結(jié)果證明,該系統(tǒng)是一個(gè)可實(shí)際使用的精確高效的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。

基于Chroma 8000測(cè)試系統(tǒng),通過(guò)對(duì)DC/DC電源模塊測(cè)試要求進(jìn)行分析,設(shè)計(jì)了某款DC/DC電源模塊測(cè)試夾具與測(cè)試外圍,實(shí)現(xiàn)了對(duì)該DC/DC電源模塊主要性能參數(shù)的測(cè)試。該方案能夠作為通用測(cè)試方法為DC/DC電源模塊測(cè)試設(shè)計(jì)提供參考。


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Chroma8000測(cè)試系統(tǒng)的創(chuàng)新能力：
Chroma8000電源模塊自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)大大方便了電源模塊的測(cè)試過(guò)程，作為一種通用測(cè)試設(shè)備并不一定完全符合各種測(cè)試要求。通過(guò)測(cè)試程序及數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的分析了解，對(duì)測(cè)試程序進(jìn)行一定優(yōu)化，對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的分析進(jìn)行數(shù)據(jù)輸出處理。

電源模塊需求量不斷增加，電源模塊的測(cè)試效率大大阻礙了電源模塊的批量生產(chǎn)，電源模塊自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)也應(yīng)運(yùn)而生。相對(duì)托運(yùn)測(cè)試，自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)較大提高了模塊的測(cè)試效率，但是自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)提供了測(cè)試程序是以單個(gè)測(cè)試項(xiàng)目作為一個(gè)模塊程序，對(duì)于日常沒(méi)，雅芳多么要是多個(gè)模塊程序的組合，就造成測(cè)試過(guò)程重復(fù)，測(cè)試數(shù)據(jù)量大，測(cè)試效率低，并不能滿足測(cè)試的需求。系統(tǒng)輸出的數(shù)據(jù)格式也不能滿足用戶的需求。

Chroma8000測(cè)試程序的優(yōu)化：
Chroma8000測(cè)試系統(tǒng)包含了眾多的測(cè)試項(xiàng)目，在電源模塊的測(cè)試過(guò)程中，可以根據(jù)要求來(lái)加入相應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目來(lái)完成測(cè)試要求。例如：測(cè)試一只通用電源模塊，測(cè)試參數(shù)有：輸出電壓，Vp-p，Vre，電壓調(diào)整率，電流調(diào)整率，輸入電流，效率。使用系統(tǒng)項(xiàng)目測(cè)試。

Chroma8000測(cè)試系統(tǒng)程序的編寫：
Chroma8000測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試項(xiàng)目拼接，根據(jù)測(cè)試參數(shù)的不同，引用不同測(cè)試項(xiàng)目中相關(guān)的測(cè)試代碼。代碼修改，拼接完成的代碼有大量的關(guān)于儀器初始化代碼，只需要開始部分的初始化代碼，其余全部刪除，還有部分冗余代碼，可以參考手冊(cè)進(jìn)行相關(guān)的刪除修改。

Chroma8000測(cè)試程序優(yōu)化前后對(duì)比
從測(cè)試時(shí)間來(lái)說(shuō)，優(yōu)化前測(cè)試用時(shí)41s，優(yōu)化后測(cè)試用時(shí)15s，節(jié)約測(cè)試時(shí)間60%，由此可以看出，測(cè)試程序的優(yōu)化是有必要的，也是成功的。
經(jīng)過(guò)對(duì)測(cè)試程序的優(yōu)化，徹底簡(jiǎn)化了測(cè)試數(shù)據(jù)，縮短測(cè)試時(shí)間，提高了測(cè)試效率。經(jīng)過(guò)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的分析，在測(cè)試中可以按照要求的表格得到測(cè)試數(shù)據(jù)。

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深圳市全華電子有限公司專注于二手Chroma8000測(cè)試系,電子負(fù)載,交/直流電源等

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  詞條說(shuō)明

• Chroma8000電源模塊集成測(cè)試系統(tǒng)

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