S-400/S-410紅外分光光度計(jì)

時(shí)間：2015-06-17作者：北京中儀友信科技有限公司瀏覽：281

S-410型：●帶近紅外定量分析軟件包，隨機(jī)提供外接手提電腦，可運(yùn)行Windows界面數(shù)據(jù)采集分析處理控制軟件，執(zhí)行單通道光譜掃描、機(jī)內(nèi)建模、檢驗(yàn)及轉(zhuǎn)移模型、樣品分析等功能；●8通道掃描曲線存儲(chǔ)/顯示比較；●2種樣品池用于不同樣品。

?技術(shù)參數(shù)：型號(hào)S-400S-410波長(zhǎng)范圍1300-2500nm900-2500nm波長(zhǎng)重復(fù)性≤1nm≤1nm掃描間隔4、8、16nm4、8、16nm吸光度重復(fù)性≤0.002A≤0.001A信噪比≥103≥103顯示800×600真彩LCD800×600真彩LCD接口串行通信口串行通信口打印標(biāo)準(zhǔn)噴墨打印機(jī)標(biāo)準(zhǔn)噴墨打印機(jī)

產(chǎn)品特點(diǎn)：●近紅外定性及定量分析軟件包，隨機(jī)提供外接手提電腦，可運(yùn)行Windows界面數(shù)據(jù)采集分析處理控制軟件，執(zhí)行單通道光譜掃描、自檢校正、機(jī)內(nèi)建模、檢驗(yàn)及轉(zhuǎn)移模型、樣品分析、多通道運(yùn)算、通道掃描曲線存儲(chǔ)/顯示比較/打印報(bào)告等功能；●日本原裝進(jìn)口pbs檢測(cè)器帶制冷，積分球反射率95%以上；●旋轉(zhuǎn)式樣品臺(tái)背景固定，樣品可*旋轉(zhuǎn)作多面測(cè)定，解決混合不均勻問(wèn)題；●置式樣品池，2種樣品池用于不同樣品；●掃描速度小于2min。


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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• TY10激光多普勒測(cè)速儀ZX21

  儀器簡(jiǎn)介： 激光多普勒測(cè)速儀是應(yīng)用多普勒效應(yīng)，利用激光的高相干性和高能量測(cè)量流 體或固體流速的一種儀器。 2束光強(qiáng)大致相當(dāng)、頻率差40MHz的激光，經(jīng)過(guò)光纖探頭，形成一個(gè)橢球體的測(cè)量 體，該測(cè)量體內(nèi)的干涉條紋間距和探頭的口徑、焦距、激光的波長(zhǎng)有關(guān)。粒子穿過(guò) 測(cè)量體，產(chǎn)生多普勒頻率，該頻率的大小和粒子穿過(guò)測(cè)量的速度有線性關(guān)系，該頻 率的相位信號(hào)和粒徑有線性關(guān)系。測(cè)量多普勒頻率，就可以得到粒子的速度

• 工業(yè)萬(wàn)用示波表ZX21

  一、三種儀器集于一體堅(jiān)固緊湊的工業(yè)型萬(wàn)用示波表124真正將示波器、萬(wàn)用表和無(wú)紙記錄儀集成為一臺(tái)經(jīng)濟(jì)易用的手持式儀器。可以快速查尋機(jī)床、儀表、控制和電源系統(tǒng)的故障，為工業(yè)用戶(hù)的故障診斷和安裝調(diào)試提供全面的解決方案。 雙通道同時(shí)顯示數(shù)字表讀數(shù)和波形 1、雙通道40MHz數(shù)字示波器 2、雙通道5,000字真有效值 數(shù)字多用表 3、雙通道趨勢(shì)繪圖 4、即觸即測(cè)功能便于脫手操作 5、一對(duì)屏蔽測(cè)試線適合示波

• XPN-300偏光顯微鏡熔點(diǎn)儀

  XPN-300偏光顯微鏡熔點(diǎn)儀一、用途 XPN-300偏光顯微鏡熔點(diǎn)儀、偏光溫控儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門(mén)和相關(guān)高等院校較常用的專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶(hù)作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動(dòng)尺等附件還可用于化工化纖、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗(yàn)等領(lǐng)域。偏光熔點(diǎn)測(cè)定儀采用微電腦

• Atlantis真空火花直讀光譜儀

  主要特點(diǎn)1、**、快捷的分析性能（僅20-30秒）2、動(dòng)態(tài)范圍：從ppm—%3、開(kāi)闊的火花臺(tái)以及特殊的小樣品夾具，保證儀器適用于各種形狀的金屬樣品分析4、精確：**1%偏差5、優(yōu)異的氮、氧元素分析性能6、高穩(wěn)定性，高可靠性7、可選配多檢測(cè)系統(tǒng)，使得PMT與CCD技術(shù)相結(jié)合，增加儀器基體及元素分析升級(jí)的靈活性8、高等級(jí)標(biāo)樣標(biāo)定9、PC控制的變頻高能預(yù)火花（HEPS）10、高精度的溫度與壓力控制11