XPN-300偏光顯微鏡熔點(diǎn)儀

時間：2015-09-09作者：北京中儀友信科技有限公司瀏覽：253

XPN-300偏光顯微鏡熔點(diǎn)儀一、用途

? ?XPN-300偏光顯微鏡熔點(diǎn)儀、偏光溫控儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關(guān)高等院校較常用的專業(yè)實(shí)驗儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗等領(lǐng)域。偏光熔點(diǎn)測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調(diào)節(jié)，及模糊手動調(diào)節(jié)功能，偏光熔點(diǎn)測定儀通過LED顯示溫度值及設(shè)定溫度值。二、系統(tǒng)簡介 ? 偏光顯微鏡熔點(diǎn)儀系統(tǒng)是將精密的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、**的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、**的計算機(jī)圖像處理技術(shù)**地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。可以顯示屏上很方便地觀察實(shí)時動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進(jìn)行編輯、保存和打印。


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