XS3DU微量天平較新款上市

時(shí)間：2014-05-27作者：南昌星楓儀器有限公司瀏覽：228

XS3DU微量天平


梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有**的稱量性能，完全滿足基礎(chǔ)稱量應(yīng)用：在800
mg的精細(xì)量程范圍內(nèi)提供1 μg的可讀性。具有同類產(chǎn)品中較佳的重復(fù)性可低至0.8
μg，是獲得理想的稱量可靠性的關(guān)鍵，避免不必要的重復(fù)測試，顯著地降低了樣品和時(shí)間的浪費(fèi)。

梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設(shè)計(jì)。

描述

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南昌星楓儀器有限公司專注于測距儀,涂層測厚儀,超聲波測厚儀,里氏硬度計(jì),測振儀等

• 詞條

  詞條說明

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