如何制作標準的ICT測試程序

時間：2023-07-26

作者：東莞市賜宏智能設備制造有限公司

注意事項:

一. 一般情況下不允許修改R 的標準值（電阻并聯(lián)電阻除外）

二. 修改程式的上下范圍必須按以下的標準執(zhí)行 .

ü 跳線﹑ Connecter ﹑Fuse﹑電感﹑排感 ﹕

以J測試﹐ Exp-V用1表示﹐+-10% ﹐MODE為 0 ﹐無Guarding ，無 Offset 。

跳線﹕ 當Pin-Pin間有跳帽時﹐Exp-V用1表示﹐否則Pin-Pin間測試Exp-V采用4表示。

開關探針﹕ 以J測試﹐ Exp-V用1表示+-10% ﹐MODE為 0

ü 電阻﹑排阻 ﹕

1﹑0 Ω ﹕按3 Ω 為標準﹐+10%﹐-1%﹔或按J測試﹐MODE為1﹐無Offset﹐+-10%

2﹑2.2 Ω : +60%﹐-30%﹐一般不采用MODE 3﹐無Guarding

3﹑4.7 Ω : +40%﹐-20%﹐ 一般不采用MODE 3 , 無Guarding

4﹑10.0 Ω ﹕ +15%﹐ -10%﹐一般不采用MODE 3﹐可根據(jù)各機臺稍加Offset

5﹑10. 0Ω 以上﹕ +-10%﹐一般不采用MODE 3 ﹐不加 Offset

6﹑熱敏電阻﹕可適當放寬范圍 , 一般不采用MODE 3﹔

7﹑電阻并聯(lián)﹐可按并聯(lián)值(R 1 *R 2 )/(R 1 +R 2 )作標準值﹔+-10% 一般不采用MODE 3

8﹑NC元件﹕一般50KΩ為標準值﹐+Lim:-1% ﹐-Lim﹕10% ﹐有并聯(lián)除外

9﹑并聯(lián) IC 時﹐100K以上電阻+Lim﹕+10%﹔-Lim﹕可稍放寬

10﹑ No Pin的電阻可適當考慮用串聯(lián)的方式進行測試﹐ 小電阻并聯(lián)大電阻相差20倍時﹐大電阻不予測試﹔

11﹑蜂鳴器﹕做電阻測試﹐Exp-V采用44ohm （據(jù)實際情況） ﹐+-10%﹐無 Guarding ﹐ 一般不采用MODE 3

12﹑FET管作電阻測試﹕Mode 一定為5﹐+20%﹐ -10% ﹔也可直接選用Type:QF,Mode:22或23

13﹑對測試極不穩(wěn)定的電阻﹐可按PCA上實際電阻量測值作為Exp-V或根據(jù)線路圖分析﹔

14﹑BOM-V一律根據(jù)BOM進行填寫。

15﹑可調(diào)電阻﹐以較大值測試﹐+-10% ；或取中間值測試，+ -50%。

ü 電容、排容﹕

1. 10PF或10PF以下電容﹐測試會極不穩(wěn)定﹐Exp-V可加大到30PF或50PF﹐+50%,-40%,也可依實際情況定Exp-V﹐offset定好后不允許隨意更改﹔ 具體依DEBUG原則﹔

2. 10PF以上﹐1nF以下﹐+45%,-35%, offset定好后不允許隨意更改﹔Mode參見Debug原則﹔

3. Exp-V ﹕1nF~99nF﹐+45%,-35%, Mode參見Debug原則﹔

4. Exp-V ﹕100nF﹕+70%,-30%﹐ 無Offset , Mode參見Debug原則﹔

5. Exp-V ﹕1uF﹕+40%,-30%﹐ 無Offset , Mode參見Debug原則﹔

6. Exp-V ﹕10uF以上﹐470uF以下﹐+-30%﹐Mode參見Debug原則﹔

7. Exp-V﹕470uF以上﹐+-20%﹐

8. 并聯(lián)電容Exp-V= C 1 +C 2 + …… + C n ﹐

9. NC元件﹕可以不進行測試﹔

10. FET管作電容測試﹕Exp-V約2~10nF﹐+20%﹐-15%﹐Exp-V定下后不能隨意更改﹔

11. BOM-V一律根據(jù)BOM進行填寫﹔NC元件BOM-V為0u﹔

12. 小電容并大電容﹐相差20倍以上﹐小電容可以不予測試 (C 1 /(C 1 +C 2 +…C n ))<=5%) 。

13. 微法級電容的電容值小於 1000uF ， Mode4 的測試會比 Mode8 來得好且速度也較快;

14. 較大微法級電容值測試不穩(wěn)時﹐可以加放電﹔

15. 當規(guī)定的Limit 與 BOM上規(guī)定的小時 ﹐一律依據(jù)BOM作為標準。

16. 電容極性測試：必加三端測試針，MODE8、18。EXP-V：0.2V,G 以*三腳為G。

17. 實際值以 5V ～ 10V 量測時，標準值之漏電流值約 0.2mA ～ 0.5mA ，若反插時 , 其反向漏電流值會遠大於正向漏電流值。高點之腳號即是電容＋端之測試針號碼 , 而低點之腳號即是電容－端之測試針號碼，通常須加較大的延遲時間，漏電流才會穩(wěn)定。

ü 電感﹕ 除了作J測試外﹐電感主要以L測試﹐+-30%

ü 二極體﹕

1. 發(fā)光二極管用D作Type﹐Mode 用1或 24﹐當用24Mode時﹐Exp-V為1. 5V 不允許交換高低點﹐ 偏差 +-30% （把管子點亮）

2. 每個二極管分作兩步測試﹕高﹑低點互調(diào)測試﹐不允許交換高低點和修改Exp-V, 范圍依(1)規(guī)定。

ü 三極管﹕

1. 以 Q 測試﹕+-30% ﹐ 具體參考 Debug原則 ﹐ 不允許交換高低點

2. 以QH為Type的三端測試﹐+-30%﹐ 具體參考 Debug原則﹐ 不允許交換高低點

3. 以上3種方法測試必須同時使用﹔選用Mode時必須參考其實際為PNP還是NPN

4. NC時﹐采用Type:QN測試﹐ BOM-V﹕0.7V﹐ Exp-V為0.7V左右﹐+-30 %

ü FET管﹕

1. 以QF為Type﹐量測漏電流 Ids ﹐ Bom-V依線路圖提供的電壓供給﹐ +-30%﹐不允許交換高低點﹐其Guarding Pin為G。

2. 以QF為Type﹐量測漏電流 Vds ﹐ Bom-V依線路圖提供的電壓供給﹐+30%﹐-1%﹐Exp-V:0.2V, 不允許交換高低點 ﹐ 其Guarding Pin為G 。

3. 還必須同時采用電阻或電容測試﹔不允許交換高低點

ü Clamping Diode

1. 對GND量測﹐+-30%﹐Mode 為2﹐ Guarding Pin 以它本身學到的為準﹐ 不允許交換高低點﹔

2. 對VCC量測﹐+-30%﹐Mode 為2﹐ Guarding Pin 以它本身學到的為準﹐ 不允許交換高低點﹔

3. 測試不穩(wěn)定時﹐可加放電或4ms以內(nèi)的延遲或重測。

4. 當標準樣板測試值小于0.1V時﹐可以0.1V為Exp-V﹐+30%,-1%﹔

5. 對于較脆弱的Clamping Diode,可根據(jù)實際情況決定其是否測試

6. 如有幾種料導致無法測試時﹐可舍測其中一種。

ü IC Open﹕ 學習好的IC OPEN接受值﹐其Limit為+80%﹐-40%﹐之中不能加放電﹐單片測試值如與整體統(tǒng)計值偏差較大時﹐應找其他原因﹐不能改動設定值。

ü 其他﹕ A: 78L05做三極管測試 1#﹔B:加測網(wǎng)卡12﹑13腳對地阻抗﹔C﹕加測PWM測試阻抗﹔

ü NOTES﹕電阻﹑Connector上的排針﹑感﹑二極管可電測率應盡量保持在**。

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