低氣壓試驗(yàn)

時(shí)間：2023-07-07作者：江蘇亞標(biāo)檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：68

低氣壓試驗(yàn)，是用設(shè)備模擬高空氣壓環(huán)境，用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運(yùn)輸或使用的適應(yīng)性。亞標(biāo)檢測(cè)可開(kāi)展單純低氣壓實(shí)驗(yàn)，低氣壓-溫度綜合試驗(yàn)，低壓氣-溫度-濕度綜合試驗(yàn)。




服務(wù)介紹




亞標(biāo)檢測(cè)的低氣壓試驗(yàn)箱，溫度范圍覆蓋－70℃至200℃，氣壓范圍覆蓋0.2kPa至101kPa要用于考核航空航天裝備、電子元器件或者其他產(chǎn)品在低氣壓、溫濕度綜合作用下的可靠性，可開(kāi)展低氣壓試驗(yàn)、高溫低氣壓、低溫低氣壓、快速減壓試驗(yàn)等試驗(yàn)項(xiàng)目。




資質(zhì)能力：

中國(guó)合格評(píng)定 認(rèn)可**（CNAS）認(rèn)可。

適用范圍：

可為電子、儀器儀表、汽車、以及航空航天產(chǎn)品的元器件、結(jié)構(gòu)件、組件以及整機(jī)等開(kāi)展低氣壓試驗(yàn)。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 2423.21-2008，IEC60068-2-13-1983、GB/T 2423.27-2020、GJB150.2A-2009、GJB150.24A-2009等。

試驗(yàn)項(xiàng)目：

1.單純低氣壓實(shí)驗(yàn)。

在試一下中應(yīng)保持下列壓力，其允許差未±5%或±0.1kPa（以大者為準(zhǔn)），在84kPa等級(jí)時(shí)的允差為±2kPa。如下表所示。

氣壓		試驗(yàn)氣壓允差		近似海拔高度（h）
kPa	mbar	kPa	mbar
1	10	±0.1	±1	31200
2	20			26600
4	40	±5%		22100
8	80			17600
15	150			13600
25	250			10400
40	400	±2	±20	7200
55	550			4850
61.5	615			4000
70	700			3000
79.5	795			2000
84	84			/

2.低氣壓-溫度綜合試驗(yàn)

表1 溫度、氣壓和持續(xù)時(shí)間的優(yōu)選組合

溫度（℃）	氣壓		持續(xù)時(shí)間（h）
	kPa	mbar
155	4	40	2
85	4	40	2
155	15	150	2
85	15	150	2
55	15	150	2
55	25	250	2
55	40	40	2
55	55	550	2；16
55	70	700	2；16
40	55	550	2




3.低氣壓-溫度-濕度綜合試驗(yàn)

溫度－濕度－高度試驗(yàn)條件及步驟如下：

a) 在實(shí)驗(yàn)室正常大氣條件下對(duì)受試樣品進(jìn)行初始檢測(cè)；

b) 受試樣品斷電，將其放入試驗(yàn)箱內(nèi)，盡可能模擬其實(shí)際安裝使用狀態(tài)；

c) 變化到冷/干——受試樣品不工作，在40min內(nèi)調(diào)節(jié)試驗(yàn)箱的溫度從室溫降至-55℃；

d) 冷/干  浸泡——受試樣品不工作，使受試樣品在溫度為-55℃的條件下保持4h；

e) 冷/干  溫升——以 *低工作電壓18VDC給受試樣品通電使其工作，然后在10min內(nèi)將試驗(yàn)箱內(nèi)溫度升至-40℃；

f) 冷/干  性能檢查——完成步驟e）后立即觀察測(cè)試軟件界面是否有故障出現(xiàn)；

g) 變化到冷/干  高度——保持受試樣品工作狀態(tài)，在10min內(nèi)將試驗(yàn)箱的壓力由實(shí)驗(yàn)室壓力降低到41.06kPa（對(duì)應(yīng)高度為7000m）；

h) 冷/干  高度——保持試驗(yàn)箱內(nèi)溫度-40℃和壓力41.06kPa的條件30min；

i) 變化到溫/濕——在1h內(nèi)將試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度升高到32℃，壓力升至實(shí)驗(yàn)室壓力，從不控制濕度變?yōu)橄鄬?duì)濕度到95%；j) 溫/濕  保持——保持試驗(yàn)箱內(nèi)溫度32℃、實(shí)驗(yàn)室氣壓和相對(duì)濕度95%的條件30min；

k) 變化到熱/干——將電源電壓調(diào)整為30VDC，在1h內(nèi)將試驗(yàn)箱內(nèi)溫度升高到 *高工作溫度70℃，相對(duì)濕度降低到25%；

l) 熱/干  浸泡——保持試驗(yàn)箱內(nèi)溫度70℃和相對(duì)濕度25%的條件2h；

m) 熱/干  性能檢查——完成步驟l）后立即觀察測(cè)試軟件界面是否有故障出現(xiàn)；

n) 變化到熱/干  高度——在10min將試驗(yàn)箱內(nèi)的壓力由實(shí)驗(yàn)室壓力降低到41.06kPa；

o) 熱/干  高度——保持試驗(yàn)箱內(nèi)溫度70℃、壓力41.06kPa和相對(duì)濕度25%的條件4h；

p) 熱/干高度  性能檢查——完成步驟o）后立即觀察測(cè)試軟件界面是否有故障出現(xiàn)；

q) 變化到實(shí)驗(yàn)室環(huán)境條件——在30min內(nèi)將試驗(yàn)箱溫度從70℃、壓力從41.06kPa，恢復(fù)到實(shí)驗(yàn)室正常大氣條件，不控制濕度，變化結(jié)束后，受試樣品停止工作；

r) 步驟c）~步驟q）為一個(gè)完整的循環(huán)，試驗(yàn)共進(jìn)行10個(gè)循環(huán)；

s) 10個(gè)循環(huán)試驗(yàn)結(jié)束后，使受試樣品在實(shí)驗(yàn)室正常大氣條件下恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)后對(duì)其進(jìn)行 *終檢測(cè)。

照片：





江蘇亞標(biāo)檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于GJB試驗(yàn),國(guó)*測(cè)試,可靠性測(cè)試等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 淋雨試驗(yàn)

  淋雨試驗(yàn)適用于航空航天、汽車電子、家電、外部照明和信號(hào)裝置及汽車燈具外殼防護(hù)。服務(wù)介紹亞標(biāo)檢測(cè)擁有完備的防水實(shí)驗(yàn)室，可為電子元器件、儀器儀表、結(jié)構(gòu)件以及組件開(kāi)展滴雨、擺管淋雨、噴淋、浸水等水試驗(yàn)，IPX1～I(xiàn)PX9的防水試驗(yàn)。資質(zhì)能力：通過(guò)CNAS認(rèn)可適用范圍：可為各類設(shè)備、電子、儀器儀表、汽車以及航空航天產(chǎn)品的組件以及整機(jī)等開(kāi)展淋雨試驗(yàn)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4208-2017、IEC 60529:

• 砂塵試驗(yàn)

  砂塵試驗(yàn)用于確定軍民用設(shè)備對(duì)飛散砂塵環(huán)境的適用能力。服務(wù)介紹砂塵試驗(yàn)用于確定軍民用設(shè)備對(duì)飛散砂塵環(huán)境的適用能力。亞標(biāo)檢測(cè)擁有粉塵/沙塵試驗(yàn)箱（帶風(fēng)源），可為電子元器件、儀器儀表、結(jié)構(gòu)件以及組件開(kāi)展IP5X、IP6X的防塵試驗(yàn)，國(guó)的吹沙吹塵試驗(yàn)。資質(zhì)能力：中國(guó)合格評(píng)定 認(rèn)可**（CNAS）認(rèn)可。適用范圍：可為各類設(shè)備、電子、儀器儀表、汽車以及航空航天產(chǎn)品的組件以及整機(jī)等開(kāi)展砂塵試驗(yàn)。測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB

• GJB150濕熱試驗(yàn)

  GJB150濕熱試驗(yàn)是一種常用的環(huán)境試驗(yàn)方法，用于測(cè)試電子設(shè)備在高溫高濕環(huán)境下的可靠性和耐久性。該試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)由中標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)GJB150制定，適用于電子設(shè)備和航空器材的研制和檢測(cè)。GJB150.9a中描述了濕熱會(huì)對(duì)裝備產(chǎn)生多種影響，下面是一些可能的影響：1.?腐蝕和氧化：濕熱環(huán)境中的高濕度和熱量可能導(dǎo)致金屬裝備生銹、腐蝕或氧化。這可能會(huì)損壞裝備的外觀和功能，降低其壽命。2.?彈性變化：

• 霉菌試驗(yàn)

  霉菌試驗(yàn)是將產(chǎn)品或材料置于有利于霉菌生長(zhǎng)的條件下進(jìn)行試驗(yàn)，考核產(chǎn)品或材料的抗霉能力。評(píng)定其不同長(zhǎng)霉程度和霉菌對(duì)產(chǎn)品引起的表面變化和性能影響，為選材、制造、包裝等提供必要的依據(jù)。服務(wù)介紹亞標(biāo)檢測(cè)擁有多臺(tái)霉菌試驗(yàn)箱，可為電子產(chǎn)品、儀器儀表、元器件及材料等開(kāi)展霉菌試驗(yàn)。資質(zhì)能力：中國(guó)合格評(píng)定 認(rèn)可**（CNAS）認(rèn)可。適用范圍：可為航空航天、電子產(chǎn)品、儀器儀表、元器件及材料等開(kāi)展霉菌試驗(yàn)。測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：G