半導(dǎo)體芯片環(huán)境模擬試驗(yàn)高低溫箱使用時(shí)的注意事項(xiàng)

時(shí)間：2022-10-10作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：190

本實(shí)用新型適用于對(duì)半導(dǎo)體芯片及其原始器件，以及其他材料在高溫、低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性試驗(yàn)。下面介紹了使用高低溫箱的注意事項(xiàng)。

 

1、首先是處理高低溫箱，設(shè)有制冷系統(tǒng)，包括冷卻器、貯液器，以及冷卻器的冷卻器等，因此在裝卸過程中嚴(yán)禁橫放、倒放和斜放。

 

2、使用之處，因?yàn)楦叩蜏叵湟话闶秋L(fēng)冷的，風(fēng)冷要求在安裝的場(chǎng)所周圍通風(fēng)，溫度不能**過30℃。周圍不能放任何東西。

 

3、必須按設(shè)備要求進(jìn)行電氣連接，**接地，以免設(shè)備產(chǎn)生感應(yīng)。

 

4、設(shè)備的開啟和關(guān)閉，請(qǐng)確保在3分鐘內(nèi)不要關(guān)閉在開啟的冷卻器上。

 

5、實(shí)驗(yàn)室左邊設(shè)有供電電纜孔，用戶可在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行供電測(cè)試。使用者做產(chǎn)品測(cè)試時(shí)，若將加熱品放入箱內(nèi)，測(cè)試產(chǎn)品的電源請(qǐng)使用電纜孔外接電源。不要直接使用本機(jī)電源。

 

6、測(cè)試期間，如需開啟試驗(yàn)室門，請(qǐng)注意在高溫下開啟時(shí)，不要離試驗(yàn)室口太近，以免被試驗(yàn)室內(nèi)的熱空氣灼傷。盡可能縮短開啟化驗(yàn)室門的時(shí)間。

 

7、控制柜內(nèi)的漏電斷路器、過溫保護(hù)、過載保護(hù)等裝置是進(jìn)行試驗(yàn)和操作人員的基本**，因此用戶必須定期檢查。

 

8、禁止測(cè)試炸藥、可燃性和高爆性產(chǎn)品。

 

9、實(shí)驗(yàn)室門窗配有照明，可以用來實(shí)時(shí)觀測(cè)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)試驗(yàn)產(chǎn)品的情況。如有必要，請(qǐng)開啟觀察，其它時(shí)間關(guān)閉觀察。

 

10、高低溫箱在測(cè)試低溫前，請(qǐng)擦拭箱內(nèi)的空腔，然后在高溫下烘烤1小時(shí)。

半導(dǎo)體芯片環(huán)境模擬試驗(yàn)高低溫箱使用時(shí)的注意事項(xiàng)


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