博勢(shì)便攜式硬度計(jì)Equotip 550 Portable Rockwell

時(shí)間：2019-12-26作者：圓派科學(xué)儀器（上海）有限公司瀏覽：4

Equotip 550 Portable Rockwell 
產(chǎn)品規(guī)格
下載
用于刮擦敏感、拋光及細(xì)小部件的 Portable Rockwell 硬度檢測(cè)儀。它通過微米級(jí)的細(xì)小穿透能力及**的靈敏度。堅(jiān)固的觸摸屏帶有增強(qiáng)的軟件應(yīng)用和分析功能。

性能與優(yōu)點(diǎn)
 



**于細(xì)小部件

尤其適合對(duì)刮擦敏感且拋光的部件或細(xì)小部件、剖面和管道。可靠硬度讀數(shù)所要求的較低厚度是十倍壓入深度。對(duì)于質(zhì)量，沒有較低要求。

 

 

 



適用于各種樣品幾何體

探頭可以利用*特的測(cè)量夾和支撐腳對(duì)各種幾何體進(jìn)行檢測(cè)。 

 

 

 



硬度單位眾多

以 HRC 和 HV 為單位的測(cè)量可自動(dòng)轉(zhuǎn)換為 HB、HRA、HRB 以及更多符合 ASTM E140 和 ISO 18265 標(biāo)準(zhǔn)的通用單位。

 

 

 



適用于任何環(huán)境

Equotip 550 Portable Rockwell 可用于現(xiàn)場(chǎng)、工廠和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，幾乎無任何限制。

 

 

 

 



Rockwell 測(cè)量原理


Equotip Portable Rockwell 的測(cè)量原理沿用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測(cè)法。使用 Equotip Portable Rockwell 探頭測(cè)量期間，使用準(zhǔn)確的控制力將金剛石壓頭壓入待測(cè)件中。在施加負(fù)載并釋放的同時(shí)，連續(xù)測(cè)量金剛石壓頭的壓入深度。通過記錄施加兩個(gè)限定負(fù)載時(shí)的壓入深度 d1 和 d2 來計(jì)算差異：Δ = d2 – d1。這通常稱為塑性變形。

 

 

 



圓形標(biāo)準(zhǔn)腳（磁性）
適用于扁平部件和邊緣距離大于 10mm 的檢測(cè)位置。

 

 

 



三腳架的腳
專為要求精確定位的檢測(cè)件（焊接、受熱區(qū)域）而設(shè)計(jì)。

 

 

 



特殊腳 RZ 18-70 和 70-∞
專為彎曲的測(cè)試件（例如圓柱形部件、管子、導(dǎo)管）而設(shè)計(jì)。

 

 

 

優(yōu)勢(shì)：

與 Leeb 和 UCI 相結(jié)合
與固定式 Rockwell 硬度檢測(cè)儀同樣可靠、準(zhǔn)確和標(biāo)準(zhǔn)化，但比之較快 
內(nèi)置強(qiáng)大的報(bào)告功能，隨時(shí)準(zhǔn)備好可用的數(shù)據(jù)資料


圓派科學(xué)儀器（上海）有限公司專注于進(jìn)口顯微鏡,進(jìn)口切割研磨拋光機(jī),進(jìn)口硬度計(jì),進(jìn)口球磨粉碎機(jī),掃描電鏡等

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  詞條說明

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