日本東京精密S130A粗糙度儀搭配大屏幕觸摸屏,簡單實用。強大的AI功能根據(jù)被測表面狀態(tài)自動設定較佳測量條件, 包括測量范圍、評價長度、截止波長和圖形放大倍率等。搭配多種補正功能,有直線、R面、前半、后半、兩端及花鍵曲線, 方便不同工件測量的要求。內(nèi)置式打印機可現(xiàn)場打印測量數(shù)據(jù)。 參數(shù) 型號SURFCOM 130A 測量范圍 X 軸(橫向) 50 mm Z 軸(縱向) 800μm(量程/分辨率:800μm/0.012μm、80μm/0.001μm、8μm/0.0001μm) 直線度精度:0.3 μm/50 mm 分析項目 對應標準對應JIS-2001、JIS-1994、JIS-1982、ISO-1997、ISO-1984、DIN-1990、ASME-1995、CNOMO標準 參數(shù):Ra, Rq, Ry, Rp, Rv, Rc, Rz, Rmax, Rt, Rz.J, R3z, Sm, S, R Δa, RΔq, Rλa, Rλq, TILT A, Ir, Pt, Pc, Rsk, Rku, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, VO, K, tp, Rmr, tp2, Rmr2, Rδc, AVH, Hmax, Hmin, AREA, NCRX, R, Rx, AR, NR, CPM, SR, SAR 評價曲線:斷面曲線、粗糙度曲線、濾波波紋度曲線、濾波中心線波紋度曲線、滾動圓波紋度曲線、滾動圓中心線波紋度曲線、 DIN4776特殊曲線、粗糙度Motif曲線、波紋度Motif曲線、包絡波紋度曲線 特性曲線負荷曲線、振幅分布曲線、功率曲線圖 傾斜補償方法:直線補償、R面補償、前半補償、后半補償、兩端補償、 樣條補償(直線補償、R面補償及兩端補償可在任意范圍進行補償) 倍率 縱向倍率(Z 軸) 50 、100 、200 、500 、1 k、2 k 、5 k 、10 k、20 k 、50 k 、100 k 自動 橫向倍率(X 軸) 1 、2 、5 、10 、20 、50 、100 、200 、500 、1 k 、2 k 、5 k 自動 濾波器種類:標準型濾波器(2RC)、相位補償型濾波器(2RC)、相位補償濾波器(高斯) 測量速度: 0.15、0.3 、0.6 、1.5 、3 mm/s( 5速) 傳感器針尖半徑:2μm,材質:金剛石,測量力:0.75mN **的功能 AI 功能搭載新手也易于理解的AI功能 段差分析功能較適合半導體零部件的膜厚及面積測量 PC 卡可輸出文本文件并將數(shù)據(jù)提供給計算機。 標準附件標準片(E-MC-S24B)、記錄紙(E-CH-S21A)、手寫筆(E-MA-S54A)、使用說明書、支持軟件 電源AC100 V?240 V ±10 % 設置尺寸(W×D×H) 700 mm×300 mm×150 mm 質量8 kg
詞條
詞條說明
便攜式粗糙度儀E-35B是日本東京精密生產(chǎn)的性價比較高的一款設備。該設備可以用于現(xiàn)場或者實驗室檢測 產(chǎn)品表面粗糙度,可輸出Ra,Rz,Ry,Rzmax,Pc等參數(shù)數(shù)值。設備可對應JIS,ISO,DIN,ASME,CNOMO等規(guī)格。 測量長度可達12.5mm,分辨率為0.01μm。另有后置夾具可搭配高度尺使用,操作簡單,功能強大。 參數(shù) 型號 HANDYSURF E-35B 測量范圍 Z 方向:±1
日本東京精密S480B粗糙度儀搭配大行程高精度驅動部及傳感器,操作搖桿可控制 立柱及驅動部上下左右移動。強大的自動停止功能讓客戶不必擔心撞針,測針在垂直方向接觸工件會 自動停止。大屏幕觸摸屏,簡單實用。強大的AI功能根據(jù)被測表面狀態(tài)自動設定較佳測量條件, 包括測量范圍、評價長度、截止波長和圖形放大倍率等。搭配多種補正功能,有直線、R面、前半、后半、兩端及花鍵曲線, 方便不同工件測量的要求。內(nèi)置式打
日本東京精密S130A粗糙度儀搭配大屏幕觸摸屏,簡單實用。強大的AI功能根據(jù)被測表面狀態(tài)自動設定較佳測量條件, 包括測量范圍、評價長度、截止波長和圖形放大倍率等。搭配多種補正功能,有直線、R面、前半、后半、兩端及花鍵曲線, 方便不同工件測量的要求。內(nèi)置式打印機可現(xiàn)場打印測量數(shù)據(jù)。 參數(shù) 型號SURFCOM 130A 測量范圍 X 軸(橫向) 50 mm Z 軸(縱向) 800μm(量程/分辨率:8
日本東京精密S1400G粗糙度儀搭配高精度大量程傳感器,量程800μm,分辨率高達0.1nm。 設備搭配東京精密專業(yè)測量軟件,同一批工件可通過編程測量,大大提高效率。除了常用的汽車 、五金、模具、機床等行業(yè)外,還可以用于玻璃和半導體硅片測試,可以測量液晶玻璃用的參數(shù)Wfpd, 硅片的粗糙度和翹曲度。
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