高溫試驗到哪里辦理需要什么資料

時間：2020-01-17作者：深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：168

高溫運行（高溫貯存）的目的是確定軍民用設(shè)備、零部件在常溫條件下儲存和工作的儲存、使用的適應(yīng)性及耐久性，確認(rèn)材料高溫下的性能，為能正確觀察與驗證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應(yīng)，同時避免因濕度效應(yīng)影響試驗結(jié)果，標(biāo)準(zhǔn)中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求，高溫條件下試件的失效模式 產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。
      高溫環(huán)境對設(shè)備的主要影響有：
      a. 填充物和密封條軟化或融化；
      b. 潤滑劑粘度降低，揮發(fā)加快，潤滑作用減?。?/span>
      c. 電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞；
      d. 加速高分子材料和絕緣材料老化，包括氧化、開裂、化學(xué)反應(yīng)等；
      e. 材料膨脹造成機械應(yīng)力增大或磨損增大。
   參考標(biāo)準(zhǔn)
   IEC 60007《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 *2部分:試驗方法 試驗B：高溫》
   GJB128A-97 《半導(dǎo)體分立器件試驗方法》
   MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實驗室試驗》
   GJB4.2-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗 高溫試驗》
   GJB360A-96 電子及電氣元件試驗方法 方法108高溫壽命試驗
   MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》
   GJB548A-96 《微電子器件試驗方法和程序》
   MIL-STD-883D 《微電子器件試驗方法和程序》
   SJ/T 10325-92《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.1 高溫負(fù)荷試驗
   SJ/T 1092《汽車收放機環(huán)境試驗要求和試驗方法》4.2 高溫貯存試驗
   GB/T1352《數(shù)字通信設(shè)備環(huán)境試驗方法》
   QC/T 4002《汽車電氣設(shè)備基本技術(shù)條件》
   YD/T 15009《移動通信手持機充電器及接口技術(shù)要求和測試方法》
深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于高低溫測試,鹽霧測試,污水檢測報告,質(zhì)量檢測報告,深圳訊科等

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