HYNIX晶圓不良IC大量處理

時(shí)間：2023-02-27作者：龐博電子有限公司（中國(guó)香港）瀏覽：23

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不良IC




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下面進(jìn)行寫數(shù)據(jù)的驗(yàn)證，在程序中將DeviceData.ctrl任意賦值，然后再modsim中查看：寫入數(shù)據(jù)賦值寫入成功可以看到modsim3中相應(yīng)地址的數(shù)據(jù)也已經(jīng)變化，而其他模擬設(shè)備中并沒(méi)有改變。其他在實(shí)際的項(xiàng)目中，變頻器控制，通訊參數(shù)和數(shù)據(jù)地址一般都是設(shè)備(從站)規(guī)定好的，我們需要查閱設(shè)備手冊(cè)，在程序中做相應(yīng)的設(shè)置即可，通過(guò)通訊獲取的數(shù)據(jù)可以有觸摸屏顯示出來(lái)，方便操作人員監(jiān)控設(shè)備狀態(tài)，也可以做一寫判斷，用于設(shè)備的報(bào)警等處理。
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  詞條說(shuō)明

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