晶圓測(cè)試chipwafer上門(mén)回收

時(shí)間：2023-07-18作者：龐博電子有限公司（中國(guó)香港）瀏覽：26

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”又是一起外包作業(yè)人員觸電事故。該起事故和幾年前的“金陵事故（運(yùn)行人員惡性誤操作事故致人死亡事故）”如出一轍：“20XX年5月1日，金陵某電廠在6KV廠用系統(tǒng)倒閘操作時(shí)，監(jiān)護(hù)人員（由于柜內(nèi)帶電，電磁鎖閉鎖，柜門(mén)無(wú)法打開(kāi)）采用檢修班組保存的解鎖鑰匙冒險(xiǎn)打開(kāi)了柜門(mén)。在未經(jīng)驗(yàn)電，即開(kāi)始掛設(shè)接地線，發(fā)生電弧短路，造成現(xiàn)場(chǎng)的兩名電廠運(yùn)行人員電弧燒傷，其中一人經(jīng)無(wú)效于5月2日死亡。”近年來(lái)，聯(lián)絡(luò)開(kāi)關(guān)間隔（帶電）檢修、母聯(lián)開(kāi)關(guān)（帶電）檢修，又是未全部停電作業(yè)，又是外包，又是工期等問(wèn)題，種種不利因素交織，較易釀成事故。
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