MCPD9800光譜儀承諾守信

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    紫外吸收光譜有多種表示方法,圖形隨表示方法不同而異。有以logε作縱坐標(biāo),波長為橫坐標(biāo);有橫坐標(biāo)為波數(shù)和頻率;自動(dòng)光學(xué)檢查(AOI,AutomatedOpticalInspection)為工業(yè)自動(dòng)化有效的檢測方法,使用機(jī)器視覺做為檢測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù),大量應(yīng)用于LCD/TFT、晶體管與PCB工業(yè)制程上,在民生用途則可延伸至保全系統(tǒng)。有以波長作橫坐標(biāo),縱坐標(biāo)分別為摩爾消光系數(shù)ε,吸光度和百分透光率的。自動(dòng)分析儀描繪的曲線其縱坐標(biāo)為投射比T或吸光度A,此曲線高度隨溶液濃度而變,適用于定量分析。

    1. 同一濃度的待測溶液對不同波長的光有不同的吸光度;2. 對于同一待測溶液,濃度愈大,吸光度也愈大;3. 對于同一物質(zhì),不論濃度大小如何,較i大吸收峰所對應(yīng)的波長(較i大吸收波長 λmax) 相同,并且曲線的形狀也完全相同。


    ?光學(xué)測量是光電技術(shù)與機(jī)械測量結(jié)合的高科技。借用計(jì)算機(jī)技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)快速,準(zhǔn)確的測量。方便記錄,存儲(chǔ),打印,查詢等等功能。據(jù)介紹,光學(xué)測量主要應(yīng)用在現(xiàn)代工業(yè)檢測,主要檢測產(chǎn)品的形位公差以及數(shù)值孔徑等是否合格,主要應(yīng)用的行業(yè)領(lǐng)域有:金屬制品加工業(yè)、模具、塑膠、五金、齒輪、手機(jī)等行業(yè)的檢測,以及工業(yè)界的產(chǎn)品開發(fā)、模具設(shè)計(jì)、手扳制作、原版雕刻、RP快速成型、電路檢測等領(lǐng)域。 主要儀器表現(xiàn)為:二次元、工具顯微鏡、光學(xué)影像測量儀、光學(xué)影像投影儀、三次元、三坐標(biāo)測量機(jī)、三維激光抄數(shù)機(jī)等 除此之外非接觸檢測技術(shù)的應(yīng)用在機(jī)械制造行業(yè)中,為了使機(jī)加工的產(chǎn)品能達(dá)到設(shè)計(jì)精度和質(zhì)量要求。使用紫外光譜儀時(shí)需要注意什么使用環(huán)境溫度不能太高光譜儀在使用時(shí)如果環(huán)境溫度太高,也會(huì)影響光譜儀的測量精度,會(huì)出現(xiàn)位移偏差,所以一般情況下,光譜儀都是默認(rèn)在常溫環(huán)境下使用。



    大塚電子(蘇州)有限公司專注于電技術(shù)的研發(fā),光電系統(tǒng)集成產(chǎn)品,工業(yè)測定和分析設(shè)備等

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