簡析光譜測(cè)厚儀概念及性能優(yōu)勢(shì)

時(shí)間：2022-12-02作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：78

XTU系列光譜測(cè)厚儀，采用下照式C型腔體設(shè)計(jì)，不但可以測(cè)量各種微小樣品，即使大型**出樣品腔尺寸的工件也可測(cè)量，是一款測(cè)量涂鍍層成分及厚度*、適用性強(qiáng)的機(jī)型.該系列儀器適用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內(nèi)的樣品涂鍍層檢測(cè)。

光譜測(cè)厚儀概念：凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類?？梢詫?duì)各種板材和加工零件作準(zhǔn)確測(cè)量，另一重要方面是可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè)，監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^程中受腐蝕后的減薄程度。廣泛應(yīng)用于石油、、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。

性能優(yōu)勢(shì)：

下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

無損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

率的jie shou qi ：即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

精密微型滑軌：快速精準(zhǔn)定位樣品。

EFP**算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

應(yīng)用領(lǐng)域：

釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeAIB;

汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè);

衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZu(ABS)電鍍液的金屬陽離子檢測(cè)。

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江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測(cè)厚儀等

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  詞條說明

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