X熒光光譜儀在區(qū)域地質勘察中應用

時間：2022-11-01

利用 X射線熒光光譜儀器對地質勘察中采集的樣品粉末進行多元素測定非常，能快準確、高精度地得到檢測結果。對于不同區(qū)域的地質勘察樣品，能利用專業(yè)計算機軟件進行數(shù)據(jù)處理，提高了分析準確性和效率。通常區(qū)域化測試中需要測定39種不同的元素，而X射線熒光光譜儀就能對其中的26種進行準確測定。目前X射線熒光光譜儀進行測定工作流程比較完整，在結合其他化學探樣品分析方法后，多元素測定的效果很好，具有良好的經(jīng)濟效益和社會**。

我司生產(chǎn)的XTU-4C/XD-1000兩款型號的X熒光光譜儀，搭配四準可切換準直器，較小可選用0.03*0.2mm的準直器，搭配大面積窗接收器，5-10s的測試時間便可以出鍍層厚度，且同時分析出成分占比，且XD-1000型號的rohs測厚儀，可進行自動編程，可以對焊帶上多點進行編程測試，檢測鍍層的均勻性。對焊帶的生產(chǎn)管控起著至關重要的作用，現(xiàn)階段廣泛應用于焊帶的品質檢測中。

X熒光光譜儀特性：

可靠的高性能

測試精度、穩(wěn)定性高，在提供高質量的同時減少浪費，消除死時間;

較高的性價比

制造工藝升級，較具性價比，大大節(jié)省使用成本;

*檢測技術

高集成垂直光路系統(tǒng)，采用**的解譜技術和影像識別算法，實現(xiàn)精準、快速、智能、自動，滿足企業(yè)檢測需求;

使用壽命較長

模塊化設計，聚焦節(jié)能，搭載自動休眠模式，延長使用壽命;

**EFP算法

**的EFP算法不但對多層測試精準、校準方便，而且解決了多層合金、上下元素重復鍍層及滲層的檢測難題;

四焦-體裝置

搭載高集成四焦技術，可測量較大90mm深度的凹槽高低落差異形件;

上照式設計

上、下位機管理分工，可實現(xiàn)對**大型工件的快、準、穩(wěn)高效測量;

適用性強

精準測量各類金屬鍍層厚度的同時可對電鍍液進行分析;

以上就是一六儀器整理分享的關于X熒光光譜儀在區(qū)域地質勘察中應用。想了解儀器更多領域應用歡迎持續(xù)關注。

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詞條說明
光譜分析儀的使用范圍介紹
光譜分析技術是目前應用非常廣泛的分析檢測手段，在各領域都有其身影，冶金、地質、機械制造、石油化工、農(nóng)業(yè)、生物、醫(yī)藥、輕工業(yè)、環(huán)境保護、空間物理學、物理化學等等。在冶金和機械制造等工業(yè)領域，光譜分析基本承擔了大量日常分析任務，其歸納起來可分為以下幾個方面：1.爐前化驗檢測配合冶煉工程的熔煉過程，測定爐中鐵水或合金中各元素的含量是否符合設計要求。2.質量分析配合質檢部門，對在生產(chǎn)、試制和使用過程中
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