這篇文章主要介紹了的PHASICS公司的**技術(shù)——波前測(cè)量。PHASICS提供所有級(jí)別的集成,從單一的波前傳感器到模塊,再到完整的系統(tǒng),無(wú)論是干涉儀還是完整的MTF站。
在PHASICS所有的產(chǎn)品中都使用了一種技術(shù),這就是所謂的四波橫向剪切干涉儀。它是一種衍射光柵和傳感器技術(shù)的結(jié)合。我們使用各種傳感器技術(shù)來(lái)覆蓋從紫外線到遠(yuǎn)紅外線。
四波橫向剪切干涉儀 (QWLSI)的原理
當(dāng)待測(cè)波前經(jīng)過(guò)波前分析儀(波前傳感器)時(shí),光波通過(guò)特制光柵后得到一個(gè)與其自身有一定橫向位移的復(fù)制光束,此復(fù)制光波與待測(cè)光波發(fā)生干涉,形成橫向剪切干涉,兩者重合部位出現(xiàn)干涉條紋(圖1)。被測(cè)波前可能為平面波或者匯聚波,對(duì)于平面橫向剪切干涉,為被測(cè)波前在其自身嚴(yán)面內(nèi)發(fā)生微小位移發(fā)生微小位移產(chǎn)生一個(gè)復(fù)制光波;而對(duì)于匯聚橫向剪切千涉,復(fù)制光波由匯聚波繞其曲率中心轉(zhuǎn)動(dòng)產(chǎn)生。干涉條紋中包含有原始波前的差分信息,通過(guò)特定的分析和定量計(jì)算梳理(反傅里葉變換)可以再現(xiàn)原始波前(圖2,3)。
圖1幾何光學(xué)描述波前畸形
圖2相位重建示意圖
圖3波前相位重構(gòu)原理圖
QWLSI 是Shack-Hartmann 夏克哈特曼波前傳感器和 Fizeau菲索干涉儀技術(shù)的代替品
四波橫向剪切干涉測(cè)量具有納米級(jí)靈敏度和非常高的空間分辨率的光束的相位和強(qiáng)度。這種創(chuàng)新技術(shù)依賴于將入射光束復(fù)制成 4 個(gè)相同波的衍射光柵。傳播幾毫米后,4 個(gè)復(fù)制品重疊并發(fā)生干涉,在探測(cè)器上形成干涉圖。相位梯度被編碼在干涉條紋變形中。
Shack-Hartmann 夏克哈特曼波前傳感器基于 2 個(gè)主要組件:微透鏡陣列和位于微透鏡陣列焦平面的圖像傳感器。Shack-Hartmann 操作原理是跟蹤探測(cè)器上焦點(diǎn)的位置。當(dāng)入射波前是平面時(shí),所有焦點(diǎn)圖像都位于由小透鏡陣列幾何形狀定義的規(guī)則網(wǎng)格中。一旦波前包含像差,焦點(diǎn)的圖像就會(huì)從它們的初始位置偏移。
Fizeau 干涉儀測(cè)量原理基于干涉儀布置,該布置依賴于參考表面(參考鏡或參考球體)和測(cè)試表面之間的干涉現(xiàn)象。干涉條紋被記錄在探測(cè)器上,表面形狀之間的任何偏差都會(huì)導(dǎo)致條紋失真。然后根據(jù)條紋失真計(jì)算波前。
QWLSI 技術(shù)的開(kāi)發(fā)是為了克服 Shack-Hartmann (SH) 技術(shù)缺乏分辨率的問(wèn)題。它使用智能衍射光柵設(shè)計(jì),而不是 Hartmann 測(cè)試中使用的孔和 Shack 在 1960 年代提出的微透鏡。
四波橫向剪切干涉儀 (QWLSI) 提供:
-高分辨率:比 Shack-Hartmann 高 4 倍
-檢測(cè)器整個(gè)光譜范圍內(nèi)的無(wú)色度
-大動(dòng)態(tài)允許直接測(cè)量發(fā)散光束
-與經(jīng)典 Fizeau 干涉儀不同,沒(méi)有參考臂
-緊湊和易于實(shí)施
波前傳感測(cè)量技術(shù)比較
Shack-Hartmann 波前傳感器與 Fizeau 干涉法與 QWLSI 波前傳感器
Phasics QWLSI 波前傳感器和Shack-Hartmann 波前傳感器技術(shù)都是集成到相機(jī)里面使用的,QWLSI 波前傳感器較高取樣達(dá)到852×720,消色差僅受檢測(cè)器限制且自我參照對(duì)振動(dòng)不敏感,較大動(dòng)態(tài)范圍可以達(dá)到500um PTV,Phasics QWLSI 波前傳感器的成本相比于其他另外兩種技術(shù)較加經(jīng)濟(jì)。
Phasics SID4系列波前分析儀的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)
四波橫向剪切干涉儀 (QWLSI)有幾個(gè)優(yōu)點(diǎn)。其中**個(gè)是分辨率高。因此,與Shack Hartmann波前傳感器相比,我們只需要4乘4的相機(jī)像素來(lái)獲得一個(gè)相位測(cè)量像素,這使我們能夠獲得典型的高分辨率。高達(dá)400*300個(gè)采樣點(diǎn),具備強(qiáng)大的局部畸變測(cè)試能力,降低測(cè)量不準(zhǔn)確性和噪聲;同時(shí)得到高精度強(qiáng)度分布圖。
Phasics SID4的CCD是640×480,分辨率為160×120,分辨率是CCD的四分之一。而Shack Hartmann擁有同樣的CCD,但它的分辨率只有32×32與Phasics SID4的分辨率相差4-5倍。Phasics SID4的像素比Shack Hartmann清晰許多。
*二個(gè)優(yōu)點(diǎn)是消色差。你可以在這個(gè)傳感器的所有檢測(cè)范圍內(nèi)使用波前傳感器進(jìn)行波前測(cè)量,具有相同的精度,而不需要重新校準(zhǔn)。這都是由于我們的技術(shù)是衍射法和干涉法的結(jié)合。干涉和衍射相結(jié)合抵消了波長(zhǎng)因子,干涉條紋間距與光柵間距完全相等。適應(yīng)于不多波長(zhǎng)光學(xué)測(cè)量且不需要重復(fù)校準(zhǔn)。
*三個(gè)優(yōu)勢(shì)是大動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)量能力。因此,例如,使用我們的傳感器,你通??梢詼y(cè)量高達(dá)500微米的峰谷像差--如果你真的聚焦,例如。這也使我們的系統(tǒng)能夠直接在發(fā)散光束上工作,而不僅僅是準(zhǔn)直光束。這對(duì)于表征透鏡部件和透鏡組件特別有用??梢?jiàn)光波段可達(dá)500um的高動(dòng)態(tài)范圍;可測(cè)試離焦量,大相差,非球面和復(fù)曲面等測(cè)。測(cè)試時(shí)可以簡(jiǎn)單擺放波前分析儀,*額外的鏡頭,不會(huì)引起附加畸變。
詞條
詞條說(shuō)明
自適應(yīng)光學(xué)編程軟件由Boston Micromachines推出
美國(guó)Boston Micromachines(以下簡(jiǎn)稱(chēng)BMC),主營(yíng)光學(xué)自適應(yīng)產(chǎn)品,例如可變形反射鏡,可變形鏡片以及提供自適應(yīng)光學(xué)解決方案,近期他們推出了一個(gè)能夠方便自適應(yīng)光學(xué)軟件二次開(kāi)發(fā)的便利系統(tǒng)——自適應(yīng)光學(xué)編程軟件。圖?1. AO?系統(tǒng)中?AOSDK?的簡(jiǎn)單分解。隨著自適應(yīng)光學(xué)?(AO)?科學(xué)的不斷發(fā)展,其圈子內(nèi)外的成員數(shù)量也在不斷
Xenics團(tuán)隊(duì)在2021年經(jīng)歷了輝煌的一年:Dione和CeresT系列發(fā)布了兩款新的LWIR產(chǎn)品,以及Bobcat320系列的四款新SWIR產(chǎn)品。在2022年,Xenics不停下腳步,并且有望實(shí)現(xiàn)較大的發(fā)展,繼續(xù)穩(wěn)步增長(zhǎng),并會(huì)展示出較好的產(chǎn)品,讓用戶較加信任我們Xenics今天發(fā)布了新型高分辨率非制冷長(zhǎng)波紅外相機(jī)新**——DioneS1280。DioneS1280是一款SXGALWIR相機(jī)的核
請(qǐng)注意,干凈的光學(xué)元件可保證優(yōu)越的性能,灰塵、污跡和其他的微粒會(huì)降低光的透射或者反射。在進(jìn)行所有的操作前請(qǐng)戴好手套。如何清潔光學(xué)鏡片,請(qǐng)查看光學(xué)元件清潔的注意事項(xiàng)和操作步驟。如果光學(xué)元件只是表面上有些灰塵,不要用你的嘴使勁的吹,也不要使用你的唾液清潔。請(qǐng)使用氣壓槍?zhuān)谇鍧嵐鈱W(xué)元件時(shí),非接觸式清潔是較安全的清潔方法,因此第一步請(qǐng)使用氣壓槍。當(dāng)你想清潔指紋或者其他污漬時(shí),較好使用鏡頭紙和溶劑。當(dāng)你使用
為什么選擇徑向偏振轉(zhuǎn)換器而不是徑向偏振轉(zhuǎn)換片?
Arcoptix生產(chǎn)的徑向偏振轉(zhuǎn)換片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)由向列液晶分子構(gòu)成,由于在徑向偏振轉(zhuǎn)換片的內(nèi)部,上半部分與下半部分的向列液晶分子扭轉(zhuǎn)角方向不同,導(dǎo)致徑向偏振轉(zhuǎn)換器形成一條缺陷線,直接作用在效果圖上,如下圖所示。當(dāng)線偏振光振動(dòng)方向垂直于單元軸入射時(shí),經(jīng)過(guò)徑向偏振轉(zhuǎn)換片可得到徑向偏振光,當(dāng)線偏振光振動(dòng)方向平行于單元軸入射時(shí),經(jīng)過(guò)徑向偏振轉(zhuǎn)換片可得到方向偏振光。缺陷線可根據(jù)相位延遲器的電壓調(diào)整相位差,對(duì)缺
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
聯(lián)系人: 劉先生
電 話: 0755-84870203
手 機(jī): 18926463275
微 信: 18926463275
地 址: 廣東深圳龍崗區(qū)龍崗區(qū)平湖街道華南城1號(hào)館
郵 編:
網(wǎng) 址: welloptics.cn.b2b168.com
公司名: 深圳維爾克斯光電有限公司
聯(lián)系人: 劉先生
手 機(jī): 18926463275
電 話: 0755-84870203
地 址: 廣東深圳龍崗區(qū)龍崗區(qū)平湖街道華南城1號(hào)館
郵 編:
網(wǎng) 址: welloptics.cn.b2b168.com