高頻振動試驗臺驅動線圈電流的發(fā)生辦法有直接式和感應式。直接式就是將擴大器輸出的電流直接加到驅動線圈上,這種辦法是高頻振動試驗臺的干流。感應式是將交變電流轉入一固定線圈,然后經(jīng)過感應辦法在驅動線圈發(fā)生電流。感應式高頻振動試驗臺的驅動線圈不需求引出電纜,布局簡略,但這種高頻振動試驗臺功率相對較低。美國的UD公司的一些高頻振動試驗臺選用了這種布局。**企業(yè)所和其他公司的產(chǎn)物選用的是直接式,因為很好地處理了驅動線圈引出電纜問題,其產(chǎn)物較有用。
高頻振動試驗臺的磁場發(fā)生辦法可分為永磁型和勵磁型。永磁型的穩(wěn)定磁場是由永世磁鋼發(fā)生的,因為大體積的磁鋼制造較艱難,當前這種布局只適用于小型高頻振動試驗臺。如**企業(yè)所出產(chǎn)的2202型高頻振動試驗臺和BK公司的4808型高頻振動試驗臺都歸于永磁型。而關于大型高頻振動試驗臺則需求在勵磁線圈中通以直流電流來發(fā)生穩(wěn)定磁場,這就是勵磁型高頻振動試驗臺。
勵磁型高頻振動試驗臺又可分為單勵磁和雙勵磁。單勵磁只要一組勵磁線圈,構成一個磁場回路,這種布局勵磁功率低、耗電量大、漏磁很大,需求用消磁線圈來包管作業(yè)臺面有一個低的磁場。雙勵磁由兩套勵磁繞組發(fā)生磁場,別離置于作業(yè)磁隙的上下兩邊,在作業(yè)磁隙的磁場相互疊加,而在作業(yè)臺面上的磁場相互抵消,所以作業(yè)臺面上的磁場就很小。一起因為雙勵磁磁路縮短,磁阻減小,勵磁功率比單勵磁有明顯進步。**企業(yè)所的2104系列高頻振動試驗臺、美國LING和英國LDS的一些大型高頻振動試驗臺都歸于雙磁場勵磁。相同是雙勵磁布局,**企業(yè)所的高頻振動試驗臺上下兩組磁場對錯對稱的,而其他的高頻振動試驗臺卻是對稱的。
高頻振動試驗臺的冷卻辦法有**冷卻、強迫風冷、水冷和油冷等幾種辦法。**冷卻只適用于功率很小的小型激振器。油冷辦法因為布局雜亂,在新研發(fā)的高頻振動試驗臺已不多見,如今還在運用的油冷高頻振動試驗臺要注意堅持油的質量和數(shù)量。強迫風冷是用于中小型高頻振動試驗臺的常用冷卻辦法,它是使用高壓風機將臺體內(nèi)的熱空氣不斷抽出完成冷卻的。這種辦法冷卻時,驅動線圈和勵磁線圈的布局比較簡略,設備裝置便利,本錢低,不會呈現(xiàn)水冷臺常見的漏水、水路阻塞等毛病。但高壓風機作業(yè)時噪音十分大,對操作人員影響很大。風冷的冷卻功率相對較低,不合適大型高頻振動試驗臺的冷卻。水冷是大中型高頻振動試驗臺常用的冷卻辦法,一般水冷臺的繞組都是用空心漆包導線繞制的,而把冷卻水直接通入空心漆包導線內(nèi)進行冷卻,冷卻功率高,并且沒有太大的噪音。但高頻振動試驗臺布局較雜亂,對冷卻水的水質需求較高,常用蒸餾水或去離子水。在水冷臺中,美、英幾家公司的設備存在著嚴峻的缺點,即驅動線圈引出電纜和水管的布局不合理及勵磁線圈水路的不合理,這種布局常呈現(xiàn)漏水,并且對水質需求及高,要常常換水。**企業(yè)所的高頻振動試驗臺選用的水路并聯(lián)、電路串聯(lián)、水電接頭都選用螺紋銜接的新布局繞組很好的處理了這些問題,它對水質需求不太高,水壓低,很少呈現(xiàn)漏水表象。
詞條
詞條說明
恒溫恒濕試驗箱的功能就是模擬高低溫濕熱環(huán)境,其用途比較廣泛。可分為“臺式”和“立式”,主要區(qū)別在于所能夠實現(xiàn)的溫度與濕度不同,從而產(chǎn)生的溫度也會有所不同,立式的可以做常溫以下的低溫和干燥,臺式的只能做常溫以上的溫度和高濕。恒溫恒濕試驗箱需要定期進行維護保養(yǎng)才能保持良好的性能,在維護保養(yǎng)的過程中,要著重對一些重要部件進行細致的檢查和清潔,而且要避免錯誤的維護方法導致部件老化。下面艾思荔小編總結了一些
快速溫度變化試驗機屬于恒溫恒濕試驗箱的一種,其降溫速度相對普通恒溫恒濕試驗箱來說要快很多,恒溫恒濕試驗箱的溫度變化速率比較平穩(wěn),可以以每分鐘1℃~3℃的速率平穩(wěn)的進行升降溫,而快速溫度變化試驗機的升降溫速率可以達到每分鐘2℃~15℃,特殊情況下高可以做到30℃的降溫速率。快速溫度變化試驗機的溫度變化是非線性的變化,恒溫恒濕的溫度變化則是比較接近線性的變化??焖贉囟茸兓囼灆C可以用于對溫度變化速率要
高低溫沖擊試驗箱選用好材料,使用國內(nèi)目前**的加工設備加工成型,外殼表面進行噴塑處理,美觀,平整。顏色搭配協(xié)調(diào),棱角型設計,線條流暢自然。內(nèi)膽選用進口不銹鋼板制作,設計合理,經(jīng)久耐用。設備在符合國家標準的前提下,各方面性能都穩(wěn)定的基礎上較具備實用性和便于控制。并且,該設備具有容易安裝、操作簡單,基本上不需要日常維護等特點。 高低溫沖擊試驗箱產(chǎn)品概述: 用來測試材料結構或復合材料在瞬間下經(jīng)及高溫及
半導體應用廣泛,相關的試驗設備有多種,下面簡單介紹下常見半導體試驗設備的標準如下:1.溫度循環(huán)(冷熱沖擊試驗箱)參考標準:JESD22-A104溫度范圍:-65℃~150℃低溫沖擊:-40℃,-55℃,-65℃高溫沖擊:65℃,85℃,125℃溫度沖擊時間小于3min,1min溫度保持時間30min,60min測試時間不能少于1000個循環(huán)2.熱壓器/無偏壓 HAST測試 參考標準:JESD22-
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