在被測量的薄膜上垂直照射可視光,光的一部分在膜的表面反射,另一部分透進(jìn)薄膜,然后在膜與底層之間的界面反射,薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。
利用白光干涉測量法的原理,它用一個寬波段的光源來測得不同波長的反射數(shù)據(jù),由于反射率n和k隨薄膜的不同而變化,根據(jù)這一特性進(jìn)行曲線擬合從而求得膜厚。不同類型材料的相應(yīng)參數(shù)通過不同的模型來描述,從而保證了不同類型材料膜厚測量的準(zhǔn)確性。
詞條
詞條說明
鍍層測厚儀測量結(jié)果不準(zhǔn)時(shí)如何應(yīng)對
鍍層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層的厚度。具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量**的檢測儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。在生產(chǎn)過程中,了解涂層干燥或固化所需的時(shí)間往往是十分重要的:對于多層涂料系統(tǒng),若了解干燥時(shí)間可使操作人員知道下一層何時(shí)開始涂裝。涂層的干燥時(shí)間包含許多階段。當(dāng)涂布完
● 1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測量儀的特征*可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。*可通過CCD攝像機(jī)來觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。*薄膜FP法軟件是標(biāo)準(zhǔn)配置,可同時(shí)對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量。此外,適用于無鉛焊錫的應(yīng)用。*備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。(SII**)● 2.測量原理如圖1所示,
ROHS,這個詞對于非行業(yè)分類的人來講很陌生,但是卻很掌握,陌生到什么水準(zhǔn)呢?它是什么都不清楚,乃至連聽都真不知道;針對掌握,我就只有說大伙兒見過,終歸這一在大伙兒運(yùn)用過的物件上面全是有標(biāo)識,只是沒有太在意他到底是什么。例如,手機(jī)充電頭上面,安全通道表明燈,緊急燈,射頻連接器,移動充電器,整盒的塑料盒子杯袋這種上面全是有,不敢相信可以去找找看,上面全是有標(biāo)識。ROHS,以各種各樣的標(biāo)識方法存在大伙
X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。近年來,X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,已成為一種
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