集成電路IC卡高溫測(cè)試

    在集成電路行業(yè)大家想必都知道,集成電路IC卡在出廠之前是需要經(jīng)過(guò)高低溫測(cè)試的,來(lái)測(cè)試其在高低溫環(huán)境下的性能,

    集成電路 IC卡在出廠之前,一定要進(jìn)行環(huán)境測(cè)試,以此來(lái)對(duì)集成電路在不同工作環(huán)境下的性能進(jìn)行模擬,集成電路高低溫測(cè)試是依靠封裝級(jí)和晶片級(jí)集成電路**高低溫測(cè)試機(jī),來(lái)協(xié)助廠商完成高低溫循環(huán)測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、老化測(cè)試等測(cè)試。芯片的高/低溫度測(cè)試可以在一秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)恒定溫度的快速升降,且精度達(dá)到±1℃,非常適用于芯片的高/低電學(xué)特性測(cè)試。

    芯片的高、低溫度試驗(yàn)采用了空氣壓縮機(jī),將干燥、清潔的空氣送入冰箱,在冰箱中對(duì)其進(jìn)行低溫處理,再通過(guò)外部管道送至加熱頭,使其溫度升高;將被測(cè)電路 IC卡放置在熱流罩的位置,按照操作者設(shè)定,噴出與設(shè)定溫度相差±1℃的氣流,來(lái)進(jìn)行電路板的高低溫測(cè)試。集成電路的高、低溫測(cè)試都有自己的過(guò)熱溫度保護(hù)系統(tǒng),在工廠的設(shè)定溫度是+125℃,操作者可以按照自己的實(shí)際需求來(lái)設(shè)定高、低溫的限**,一旦溫度**過(guò)設(shè)定的溫度,測(cè)試儀就會(huì)自動(dòng)停止工作。將待測(cè) IC卡和溫度傳感器放在集成電路高低溫測(cè)試的測(cè)試腔中,操作者設(shè)定需要測(cè)試的溫度范圍,從而開始集成電路高低溫測(cè)試。使用空壓機(jī),將干燥、潔凈的空氣送入制冷機(jī),對(duì)其進(jìn)行低溫處理,之后,通過(guò)外部管線,使空氣達(dá)到加熱頭的溫度。


    廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

  • 詞條

    詞條說(shuō)明

  • 冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試

    芯片(chip),又稱微芯片(microchip),是集成電路的載體。一般而言,芯片(IC)泛指所有的半導(dǎo)體元器件,是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分,承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開關(guān)特性以及開關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過(guò)高時(shí)元器件體積發(fā)生

  • 溫度沖擊試驗(yàn)箱類型

    溫度沖擊試驗(yàn)箱是一種廣泛應(yīng)用于電子電器、汽車、軌道交通、通訊、航空航天、醫(yī)療等行業(yè)的測(cè)試設(shè)備。其主要作用是模擬實(shí)際環(huán)境下的交變溫度條件,以測(cè)試電子元器件、材料和產(chǎn)品的耐熱性、耐寒性、熱穩(wěn)定性、機(jī)械強(qiáng)度和電性能等指標(biāo)。按照不同的測(cè)試要求和使用場(chǎng)景,溫度沖擊試驗(yàn)箱可以分為多種類型。下面就對(duì)常見的溫度沖擊試驗(yàn)箱進(jìn)行簡(jiǎn)要介紹:1. 水浸式溫度沖擊試驗(yàn)箱水浸式溫度沖擊試驗(yàn)箱是將樣品放置在水池中,通過(guò)改變水溫

  • 高低溫濕熱試驗(yàn)箱常見故障排除方法

    高低溫濕熱試驗(yàn)箱常見故障排除方法 高低溫濕熱試驗(yàn)箱常見故障排除方法 一、常見構(gòu)造 試驗(yàn)人員除正確按操作規(guī)程操作,還應(yīng)該對(duì)其結(jié)構(gòu)有所了解。高低溫濕熱試驗(yàn)箱由箱體、風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)、加溫系統(tǒng)和控濕系統(tǒng)組成。風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)一般采用可調(diào)節(jié)送風(fēng)方向的結(jié)構(gòu);加濕系統(tǒng)有采用鍋爐加濕的和表面蒸發(fā)二種;降溫、去濕系統(tǒng)采用空調(diào)工況制冷結(jié)構(gòu);加熱系統(tǒng)采用電熱鰭片加熱和電爐絲直接加熱二種結(jié)構(gòu);溫濕度測(cè)試方法采用干濕球測(cè)試

  • 試驗(yàn)箱的使用方法

    試驗(yàn)箱是一種非常重要的測(cè)試設(shè)備,主要用于檢測(cè)各種材料和產(chǎn)品在不同條件下的性能和耐久性。在使用試驗(yàn)箱時(shí),應(yīng)遵循以下步驟:1. 準(zhǔn)備工作在使用試驗(yàn)箱前,應(yīng)該**行準(zhǔn)備工作。首先檢查試驗(yàn)箱是否正常工作,以確保其滿足測(cè)試要求。然后清理試驗(yàn)箱內(nèi)的雜物和污垢,并檢查溫度、濕度、壓力等參數(shù)是否符合測(cè)試要求。2. 安裝樣品將待測(cè)試的樣品放入試驗(yàn)箱內(nèi),以確保其能夠產(chǎn)生穩(wěn)定和可靠的測(cè)試結(jié)果。根據(jù)實(shí)際測(cè)試要求,應(yīng)合理安

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