臺(tái)式X熒光光譜儀的測(cè)試步驟簡(jiǎn)析

時(shí)間：2023-11-24作者：無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司瀏覽：30

臺(tái)式X熒光光譜儀主要由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測(cè)樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。那么臺(tái)式X熒光光譜儀的測(cè)試步驟你了解嗎？我們一起來看下吧。

1、校準(zhǔn)儀器，包括能量校準(zhǔn)和波長(zhǎng)校準(zhǔn)，確保儀器的準(zhǔn)確性和精度。

2、準(zhǔn)備樣品，確定樣品的表面平整，無雜質(zhì)，無應(yīng)力集中等缺陷。同時(shí)，確定樣品的粒度、密度和化學(xué)組成等參數(shù)，以便選擇合適的激發(fā)源和射線束。

3、選擇合適的激發(fā)源和射線束，確定樣品的照射面積和照射時(shí)間等參數(shù)。這些參數(shù)的選擇應(yīng)根據(jù)樣品的特性和分析需求進(jìn)行。

4、調(diào)整樣品的放置位置，確保樣品表面與激發(fā)源和探測(cè)器之間的距離合適，以獲得清晰、準(zhǔn)確的熒光信號(hào)。

5、開始測(cè)試，記錄熒光光譜數(shù)據(jù)。根據(jù)數(shù)據(jù)的特征和峰位，可以對(duì)樣品的元素組成進(jìn)行定性和定量分析。

需要注意的是，X熒光光譜儀是一種相對(duì)分析方法，光譜儀只提供X射線熒光的強(qiáng)度。要找到熒光強(qiáng)度與樣品濃度的關(guān)系，通常需要一套高質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)元素的濃度和已測(cè)的該元素的特征譜線的強(qiáng)度按一定關(guān)系進(jìn)行擬合繪制工作曲線。以該工作曲線為基礎(chǔ)，可以測(cè)試同類型樣品元素的組成和含量。

以上信息僅供參考，如需了解更多信息，請(qǐng)咨詢專業(yè)人士。

創(chuàng)想臺(tái)式X熒光光譜儀


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