基于真空探針臺的紅外焦平面自動測試的關(guān)鍵技術(shù)研究

時間：2023-10-07作者：鄭州科探儀器設(shè)備有限公司瀏覽：28

紅外熱成像技術(shù)由于自身各種優(yōu)勢在軍事領(lǐng)域和民用領(lǐng)域有著廣闊的應(yīng)用前景,因此備受各國重視,競相發(fā)展相關(guān)技術(shù)。

    由于國外對紅外熱成像技術(shù)的研究比較早,而我國在紅外熱成像技術(shù)領(lǐng)域起步較晚,所以差距很大。近年來我國在紅外熱成像技術(shù)的相關(guān)領(lǐng)域**了一些進展,但很多方面還是遠遠落后于世界水平。

    因此,還需要加快紅外熱成像技術(shù)的研究。本課題以加快紅外熱成像技術(shù)的研究進度、減小研究周期、提升研究效率,降低研究及生產(chǎn)成本為目標(biāo),以紅外熱成像系統(tǒng)的**部分非制冷紅外焦平面為基礎(chǔ),研究紅外焦平面封裝前自動化測試的技術(shù)。

   提出了自動化測試的方案及自動測試中遇到的一些關(guān)鍵問題,并對問題進行了深入研究。

    本文首先介紹了紅外焦平面測試的基本理論。在其基礎(chǔ)上,以自動化測試為目標(biāo),改進了現(xiàn)有的基于半自動真空探針臺的紅外焦平面測試系統(tǒng)硬件電路部分。設(shè)計了以USB芯片和FPGA芯片為基礎(chǔ)的硬件測試電路。通過對紅外焦平面測試的需求、鄭州科探真空探針臺程序控制及測試過程自動化的深入研究,得到測試過程自動化的一些方法、偏置電壓自動調(diào)節(jié)方法及紅外焦平面芯片能評價方法。從而在軟件方面設(shè)計了參數(shù)設(shè)置模塊、測試控制模塊、偏置電壓調(diào)節(jié)模塊、數(shù)據(jù)采集模塊、數(shù)據(jù)分析模塊、半自動真空探 控制模塊等。

    其中測試控制模塊是軟件部分的**模塊,包括三種測試模式,手動測試模式、釋放前自動測試模式及釋放后自動測試模式,起著對測試流程的整體控制作用?？刂颇K是測試軟件控制真空探針臺進行測試的重要模塊,可以靈活地控制真空探針臺的載物臺、傳送橋、顯微鏡及黑體等多個組件。偏置電壓調(diào)節(jié)模塊和數(shù)據(jù)分析模塊是自動測試中尋找紅外焦平面芯片偏置電壓及對紅外焦平面芯片能評價的關(guān)鍵模塊。

    通過比較不同偏置電壓下紅外焦平面的性能參數(shù),可以得到其工作的偏置電壓;通過對紅外焦平面偏置電壓下性能參數(shù)的比較,可以得出紅外焦平面芯片能優(yōu)劣的評價。本課題研究實現(xiàn)了對640×512、384×288、320×240等陣列大小的氧化釩非制冷紅外焦平面陣列的封裝前自動測試。通過對測試數(shù)據(jù)的分析可以得到壞點、非均勻性、噪聲、響應(yīng)率、噪聲等效溫差等參數(shù),從而評估芯片的性能。


鄭州科探儀器設(shè)備有限公司專注于真空探針臺,小型離子蒸鍍儀,小型離子濺射儀等

• 詞條

  詞條說明

• 質(zhì)量流量計為何要進行穩(wěn)壓補償

  質(zhì)量流量計為何要進行穩(wěn)壓補償常用的流量計大多只能夠直接測量流體的體積，并不能直接測量質(zhì)量，如果只測量流體在當(dāng)前工況下的體積時，質(zhì)量流量計儀表可以直接顯示出來。但是如果要求流量計顯示為流體質(zhì)量時，需要通過計算即時采樣的流體體積參數(shù)與密度參數(shù)相乘的積而得出(質(zhì)量=密度X體積)而并非直接測量出流體的質(zhì)量。質(zhì)量流量計作為流量儀表，它測量出來的數(shù)據(jù)一定要準(zhǔn)確，如果要測量流體的質(zhì)量時就涉及到一個問題：就是流體

• PVD制備K型薄膜熱電偶的研究

  熱電偶元件是在工業(yè)、科研中廣泛使用的一種溫度傳感器,具有測溫范圍廣,堅固耐用,無自發(fā)熱現(xiàn)象,使用方便等優(yōu)點。薄膜熱電偶除了繼承上述普通熱電偶的優(yōu)點外,還具有熱容小,響應(yīng)速度快,幾乎不占用空間,對被測物體影響小的優(yōu)點。本研究為制備K型薄膜熱電偶選擇了電子束蒸發(fā)鍍,磁控濺射,多弧離子鍍?nèi)NPVD方法。其中一部分樣片的NiCr/NiSi薄膜均由磁控濺射均由磁控濺射沉積,另一部分樣片的NiCr薄膜由磁控濺

• 氣體質(zhì)量流量控制器的自我診斷技術(shù)

  1. 自我診斷技術(shù)自我診斷技術(shù)是在不停機或基本不拆機的情況下，通過各種檢測分析來判斷設(shè)備狀態(tài)是否正常，異?；蚬收系脑颉⒉课?、程度以及壽命的預(yù)測。自我診斷技術(shù)的主要作用是獲得設(shè)備的結(jié)果狀態(tài)信息，即根據(jù)設(shè)備在各種工況下，表現(xiàn)出來的精度**差，零點漂移，內(nèi)漏等所有狀態(tài)信息的綜合分析來識別產(chǎn)品的狀態(tài)、異常類型和異常的嚴(yán)重程度，其本質(zhì)是一個包含信號、信息提取、信息綜合、故障識別和信息利用的過程。自我診斷的目

• 高低溫探針臺-解釋塞貝克系數(shù)測量原理及系數(shù)

  塞貝克系數(shù)（Seebeck Coefficient）也稱為熱電偶效應(yīng)或Seebeck效應(yīng)，是指兩種不同導(dǎo)體（或半導(dǎo)體）材料在一定溫差下產(chǎn)生熱電動勢的現(xiàn)象。塞貝克系數(shù)是研究熱電材料（將熱能轉(zhuǎn)化為電能的材料）非常重要的一個參數(shù)，它用來衡量材料在一定溫差下產(chǎn)生的熱電壓。?塞貝克系數(shù)的測量方法有很多種，其中一種常用的方法是恒流法。準(zhǔn)備一個熱電偶，它由兩種不同材料的導(dǎo)線組成。然后將熱電偶的其中一個