Deep Cleave模組
1.Deep Cleave模組特征
Deep Cleave是激光玻璃切割完整的光學(xué)解決方案,在較大的聚焦深度(DOF)內(nèi)提供具有恒定峰值功率的聚焦光斑。DeepCleave模組在入口設(shè)有一個標(biāo)準(zhǔn)的外部SM1螺紋,以簡化集成。每個Deep Cleave模組出廠時都附有單獨的測試報告。
2.Deep Cleave模組的優(yōu)勢
目前,大多數(shù)玻璃切割模組使用錐透鏡或衍射錐透鏡,獲得聚焦深度DOF強度分布。相對于衍射錐透鏡,Deep Cleave模組的優(yōu)勢是在沿DOF產(chǎn)生恒定的峰值功率,而不會像衍射錐透鏡那樣產(chǎn)生能量衰減。
因此,Deep Cleave可以實現(xiàn)較高的加工效率,可參見以下對比方法:
一種方法是改變加工樣品的厚度(嘗試切割較厚的玻璃),見證在相同的時間內(nèi),使用與標(biāo)準(zhǔn)Axicon相同的激光能量,如何切割較厚的玻璃,另外一種方法是使用與Axicon不同的設(shè)置,以較低的脈沖能量或較快的速度,嘗試切割類似厚度的工作樣品,并見證如何以較快的速度或較低的功率來處理樣品。
二、Deep Cleave安裝建議
1.Deep Cleave厚玻璃激光切割頭概述
該模組的初始安裝類似于較高NA(數(shù)值孔徑)的物鏡,對于傾斜和偏移都具有較高的靈敏度。此外,Deep Cleave需要將準(zhǔn)直入射光束尺寸調(diào)整到設(shè)計值。在系統(tǒng)中安裝模組之前,建議確*直質(zhì)量和入射光束的直徑。
2.安裝配置
安裝時,將Deep Cleave模組的SM1端口擰在帶有X、Y平移和傾斜控制的支架上。確保在DeepCleave模組之前根據(jù)要求使用變倍擴束器來調(diào)整光束尺寸。根據(jù)以下流程調(diào)試Deep Cleave模組。
3.推薦使用相機或光束分析儀進行對準(zhǔn)
Deep Cleave模組的輸出強度分布為直徑約為6mm的環(huán)形,匯聚速度較快。沿著光軸(mm)經(jīng)過一段距離后,當(dāng)接近工作距離時,輪廓變成貝塞爾光束。這是聚焦深度(DOF)的工作范圍。在聚焦深度(DOF)范圍之后,環(huán)形開始發(fā)散。
參見下圖:
所需設(shè)備:
-有效面積至少為7X7mm的激光光束分析儀/相機;
-帶有x、y以及傾斜控制的SM1支架;
-導(dǎo)軌/Z軸載物臺(移動相機與模組)。
用大孔徑相機/輪廓儀來測量輸入光束直徑。確保(通過使用變倍擴束器)輸入光束的直徑盡可能接近6mm(光束直徑在峰值功率的1/e2處進行測量)。對于橢圓形光束,盡量使對稱偏差保持在6mm左右。即,如果在兩個軸上的光束都測量為6×6.5mm,則將其調(diào)整為6.2X5.8mm。
測量“環(huán)形分析區(qū)域”中的輸出光束輪廓,如上圖所示。沿著光軸移動相機,觀察中心的環(huán)是否保持原來的位置不變。如果Deep Cleave垂直安裝,就像它通常安裝在玻璃切割應(yīng)用系統(tǒng)中,將相機放在工作面上,移動DeepCleave,使它到相機的距離大于9mm?,F(xiàn)在改變距離,同時觀察相機圖像。
確保在相機圖像中圓環(huán)保持居中,并且沒有被擋光。沿著光軸移動相機或屏幕時,還要確保它始終保持居中。調(diào)整x,y位置,以獲得較佳對稱輪廓。對于某些橢圓光束,較佳效果可能不是完全對稱的,請參閱橢圓度為1:2的橢圓光束的效果示例:
經(jīng)過這些步驟后,Deep Cleave模組應(yīng)該可以與工作平面對齊。
4.常見安裝問題
在對準(zhǔn)過程中,可能會遇到以下幾種典型的問題:
案例1,中心偏移:輸入光束與Deep Cleave模組不同軸,將導(dǎo)致圓環(huán)強度沿周邊分布不均,但是當(dāng)沿著光軸移動屏幕時,環(huán)的中心將保持原來的位置不變。
示例-1 mm的偏移錯位引起的沿環(huán)強度分布不對稱:
案例2,光斑傾斜:Deep Cleave對傾斜錯位相當(dāng)敏感,如果安裝時有較大的錯位,輸出輪廓可能會出現(xiàn)一個變形的環(huán),沿著環(huán)的周邊強度分布不均勻。光斑相比光軸的變形程度與傾斜的角度大致相同。為了確保妥善處理傾斜錯位的情況,請沿光軸前后移動屏幕。與中心偏移的情況不同,在這種情況下,環(huán)的中心不會保持在原位。如果在更改模組—相機的距離時,相機中的環(huán)形圖像“漂移”到一側(cè),請調(diào)整Deep Cleave模組的傾斜角度,以消除這種漂移現(xiàn)象。重復(fù)移動調(diào)整周期,直到漂移值較小。
下圖為光斑傾示例圖:
案例3,模組-相機的距離**出公差:Deep Cleave具有特定的較佳工作距離。如果圖像被剪切或修剪,減少模塊與相機的距離,直到整個圓環(huán)適合圖像為止(只要距離保持>9mm)。
5.焦深(DOF)區(qū)域?qū)R
當(dāng)貝塞爾光束的中心小于2μm時,Deep Cleave性能較佳。為了獲得良好的測量結(jié)果,需要像素尺寸小于2μm的傳感器。Holo/Or不建議使用DOF區(qū)域的重新成像,由于系統(tǒng)的高NA,因此在重新成像中會出現(xiàn)像差。如果有可能,可以將相機探測器放置在足夠近的位置,以便對聚焦深度(DOF)區(qū)域進行直接測量,這種方法應(yīng)該是可以選擇的測量方法??梢詫⑾鄼C/Deep Cleave放置在一個電動載物臺上,通過沿光軸掃描相機,并測量中心光斑的尺寸來進行分析。在工業(yè)領(lǐng)域主要采用的另一種測量方法是在材料加工過程中進行調(diào)整,并使用顯微鏡進行后期分析。在一般情況下,Z軸上的不均勻性可以通過輸入光束直徑和發(fā)散度的微小變化來調(diào)整。
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