SDD還是PIN:您的手持式XRF分析儀需要哪種探測器?
在購買手持式XRF分析儀時,確定需要硅漂移探測器(SDD)還是PIN探測器是您需要做出的首要選擇之一。
科邁斯KMX-RAY XRF系列中的兩款儀器就配備了兩種不同的探測器:K-8000分析儀裝配有Si-PIN探測器(美國MOXTEK),而K-800、K-8000PLUS分析儀裝配有SDD探測器(德國KETEK)。
SDD對比PIN:它們之間有什么差別?
硅漂移檢測器(SDD)(德國KETEK公司)是一種較新的技術(shù),其每秒鐘的X射線計數(shù)率比PIN探測器大約多10倍。SDD探測器的分辨率也比PIN探測器大約低40 eV。不過,伴隨著SDD性能的提高是成本的增加。
下圖說明了同一樣品中Si-pin和SDD的輸出差異。紅色峰表示SDD輸出,灰色光譜表示si-pin。
決定因素:這很復(fù)雜,但如果您需要測量低含量(0.05%以下)元素、輕合金(鎂鋁合金、含硅硫磷合金)或干擾比較大的合金(比如錫鉛鉍合金、鉭鈮合金),那么SDD是較佳選擇。
在確定哪種探測器較適合您的時候,您需要考慮打算如何使用XRF分析儀。在此要問您兩個重要的問題:
1、您是否需要測量一些輕元素,如:鎂(Mg)、鋁(Al)、硅(Si)、磷(P)、硫(S)、氯(Cl)、鉀(K)或鈣(Ca)?
這些較輕元素的定量性檢測只能由裝配有SDD探測器的分析儀完成。許多人因此錯誤地認(rèn)為不能使用裝配了PIN探測器的分析儀對鋁合金進(jìn)行分揀。但是,配備了PIN探測器的分析儀可以基于較重元素(如:銅、鉻或鐵)的含量對許多鋁合良好號進(jìn)行分揀。當(dāng)然要進(jìn)行較細(xì)微的區(qū)分,如:鎂含量不同的6061鋁和6063鋁,需要使用配備了SDD探測器的分析儀。
2、您是否需要較低的檢出限?
SDD探測器的檢出限(LOD)通常比PIN探測器低約3倍。SDD探測器也比PIN探測器的計數(shù)率高,因此具有較高的精密度和靈敏度。
哪種分析儀較適合您?
我們希望上面的問題已經(jīng)幫助您確定了使用哪種探測器,這意味著您向購買一款合適分析儀的目標(biāo)又邁近了一步。
如果您需要SDD探測器,那么您可能需要詳細(xì)了解我們K-800/K-8000PLUS手持式XRF分析儀,這兩款分析儀可以探測輕元素,并對合金進(jìn)行辨別。
這款分析儀可以在幾秒鐘之內(nèi)快速、精確地辨別鎂(Mg)、鋁(Al)和硅(Si)元素。分析儀的SDD探測器還可以區(qū)分相似的合良好號,如:303和304不銹鋼,6061和1100鋁,以及6063和1100鋁。這款分析儀可以有效地測量黑色金屬、鋁、銅、不銹鋼、鎳和金的含量,是完成廢料回收、基本PMI(材料成分辨別)、金屬制造和貴金屬識別等應(yīng)用的理想工具。
如果您需要PIN探測器,那么請您仔細(xì)了解一下我們的初級K-8000經(jīng)濟(jì)適用型分析儀或者K-8000MINI(針對廢舊金屬行業(yè)),這兩款價格實惠的分析儀可以對合金進(jìn)行辨別。
無論您選擇哪款分析儀,您都可以放心使用,因為兩款分析儀都具有使科邁斯KMX-RAY分析儀聲名遠(yuǎn)揚(yáng)的基本特性:檢測迅速,結(jié)果可靠,堅固耐用,連通性好,而且其操作便捷性堪比智能手機(jī)。
詞條
詞條說明
手持式光譜儀主要有X射線管、探測器和其他部件組成。其中X射線管的靶材對手持式光譜儀的應(yīng)用和測試功能有著重要的作用,因此,客戶要根據(jù)自己的使用領(lǐng)域選擇合適的靶材。本篇分享一下選擇手持式光譜儀靶材的方法以及各種靶材在測試元素時的優(yōu)缺點(diǎn),希望能對大家有所幫助:Ta鈀, W 鈀:對8-10keV 的特征線能有效的過濾掉– 使激發(fā)的光譜較加平滑,背景較低。不能測 Mg ,可以測 Al, Si。Rh鈀:適合測
企業(yè)外出采購金屬材料時,常常使用到手持式光譜儀。采購時就能夠知道金屬材料的質(zhì)量是否達(dá)到企業(yè)產(chǎn)品需求,但手持式光譜儀并不是所有元素都能檢測,也是有局限性的,下面科邁斯儀器帶大家一起看看手持式光譜儀需要注意的局限性。1.檢出限不會低到實驗室結(jié)果的水平,而且不是所有元素都能檢測。比如手持式光譜儀測不到金屬中的碳非金屬元素(C)、氫(H)、氧(O)、氮(N)、硼(B),金屬元素如鋰(Li))、的鈹(Be)
手持式合金分析儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成。手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時,就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量
手持式光譜儀的濾光片對測樣結(jié)果有什么影響?在手持式光譜儀廠商提供的參數(shù)表中,會有一項叫做“濾光片”的參數(shù),往往會寫一些元素名稱,比如鋁Al, 鎢W等。在諸如檢測鋁合金、土壤等材料的過程中,經(jīng)常會聽到“滋~滋~”聲,這其實是手持式光譜儀內(nèi)部電機(jī)轉(zhuǎn)動的聲音,在切換不同的濾光片。那么,濾光片對我們檢測的材料,檢測的元素到底有什么影響?科邁斯手持式光譜儀K-8000中光管、濾光片、樣品三者的結(jié)構(gòu)示意圖&n
公司名: 科邁斯(深圳)科學(xué)儀器有限公司
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