一六儀器生產(chǎn)的XTU系列光譜測厚儀具有哪些性能優(yōu)勢？

時間：2022-07-21

X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer-XRF)是一種通過X射線激發(fā)樣品中元素的特征X熒光射線，探測其光子能量和數(shù)量來進(jìn)行定性、定量分析，來實(shí)現(xiàn)快速、無損檢測的分析儀器。江蘇一六儀器有限公司一直專注于光譜測厚儀的研發(fā)和生產(chǎn)，近些年服務(wù)了眾多客戶，獲得了一直**。今天就跟著光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器來了解一下XTU系列的光譜測厚儀吧。

XTU系列光譜測厚儀，采用下照式C型腔體設(shè)計(jì)，不但可以測量各種微小樣品，即使大型**出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度*、適用性強(qiáng)的機(jī)型.該系列儀器適用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內(nèi)的樣品涂鍍層檢測。

快速精準(zhǔn)移動定位：高精密微型移動滑軌，10-30mm(X-Y)/圈，精度0.005mm;

微焦X射線裝置：檢測面積可小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件;

高效率正比接收器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性;

變焦裝置及算法：可對各種異性凹槽進(jìn)行檢測，凹槽深度測量范圍可達(dá)0-30mm;

對焦方便：下照式設(shè)計(jì)可以快速定位對焦樣品;

以上就是光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器給大家整理的全部內(nèi)容，如果大家想要了解更多關(guān)于光譜測厚儀的內(nèi)容，歡迎咨詢我們。一六儀器專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù)。公司產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用于環(huán)保、涂鍍層、糧食、地質(zhì)地礦、電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子、航空航天等制造領(lǐng)域。

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詞條說明
XU-100涂鍍層測厚儀在五金制品的應(yīng)用及產(chǎn)品特性
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多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)在IC載板和引線框架鍍層測厚及成分分析檢測中有哪些優(yōu)勢
隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展，集成電路（Integrated Circuits，IC）的封裝工藝也在不斷演進(jìn)，為了確保IC載板和引線框架的性能和可靠性，鍍層測厚及成分分析成為了至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。在這個背景下，多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)正嶄露頭角，以其優(yōu)勢在IC載板和引線框架鍍層測厚及成分分析中展現(xiàn)出巨大潛力。?多導(dǎo)毛細(xì)聚焦技術(shù)是一種**的分析方法，主要利用X射線全反射原理，從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛
X熒光光譜儀在電子元器件中應(yīng)用及介紹
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