X-ray檢測(cè)儀

時(shí)間：2020-06-27作者：深圳市力之鋒電子設(shè)備有限公司瀏覽：184

是專門針對(duì)常規(guī)無損檢測(cè)和缺陷分析而設(shè)計(jì)的一款高性能X-ray檢測(cè)設(shè)備。該設(shè)備采用FPD（數(shù)字平板檢測(cè)器）和密封式微焦X射線管，其焦斑尺寸達(dá)5μm，可提供高質(zhì)量的清晰圖像，可以操控樣品從任何倍率、任何傾斜角度下進(jìn)行檢測(cè)，可以令圖象不產(chǎn)生變形失真，其功能龐大的軟件。

分析尺寸：5微米

樣品臺(tái)：350*400mm（標(biāo)準(zhǔn)型）570*670mm（加大型）

傾斜角度：ma*60度

較大電壓：90KV（10W）

檢測(cè)器：FPD（數(shù)字平板檢測(cè)器）

檢測(cè)倍率：6~160倍

電     壓：220/240

重     量：950KG

 

應(yīng)用范圍

 

1、SMT領(lǐng)域檢測(cè)：BGA錫球空洞，開路，漏球，橋連

2、半導(dǎo)體行業(yè)：檢測(cè)引線鍵合,環(huán)氧樹脂空洞

3、電子元件：連接器、攝像頭模組

4、檢測(cè)蓄電池

5、檢測(cè)鋁壓鑄件和塑膠元件

 


深圳市力之鋒電子設(shè)備有限公司專注于AOI光學(xué)檢測(cè)儀,3DSPI錫膏厚度檢測(cè)儀,XRAY,德律泰AOI,德律泰SPI,PARMI等

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  詞條說明

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