靜電放電(ESD)理論研究的已經(jīng)相當成熟,為了模擬分析靜電事件,前人設計了很多靜電放電模型。
常見的靜電模型有:人體模型(HBM),帶電器件模型,場感應模型,場增強模型,機器模型和電容耦合模型等。芯片級一般用HBM做測試,而電子產(chǎn)品則用IEC 6 1000-4-2的放電模型做測試。為對 ESD 的測試進行統(tǒng)一規(guī)范,在工業(yè)標準方面,歐共體的 IEC 61000-4-2 已建立起嚴格的瞬變沖擊抑制標準;電子產(chǎn)品必須符合這一標準之后方能銷往歐共體的各個成員國。
因此,大多數(shù)生產(chǎn)廠家都把 IEC 61000-4-2看作是 ESD 測試的事實標準。我國的國家標準(GB/T 17626.2-1998)等同于I EC 6 1000-4-2。大多是實驗室用的靜電發(fā)生器就是按 IEC 6 1000-4-2的標準,分為接觸放電和空氣放電。靜電發(fā)生器的模型如圖 1。放電頭按接觸放電和空氣放電分尖頭和圓頭兩種。
IEC 61000-4-2的 靜電放電的波形如圖2,可以看到靜電放電主要電流是一個上升沿在1nS左右的一個上升沿,要消除這個上升沿要求ESD保護器件響應時間要小于這個時間。靜電放電的能量主要集中在幾十MHz到500MHz,很多時候我們能從頻譜上考慮,如濾波器濾除相應頻帶的能量來實現(xiàn)靜電防護。其放電頻譜如下,這個圖是我自己畫的,只能定性的看,不能定量。
IEC 61000-4-2規(guī)定了幾個試驗等級,目前手機CTA測試執(zhí)行得是3級,即接觸放電6KV,空氣放電8KV。很多手機廠家內(nèi)部執(zhí)行較高的靜電防護等級。
當集成電路( IC )經(jīng)受靜電放電( ESD)時,放電回路的電阻通常都很小,無法限制放電電流。例如將帶靜電的電纜插到電路接口上時,放電回路的電阻幾乎為零,造成高達數(shù)十安培的瞬間放電尖峰電流,流入相應的 IC 管腳。瞬間大電流會嚴重損傷 IC ,局部發(fā)熱的熱量甚至會融化硅片管芯。ESD 對 IC的損傷還包括內(nèi)部金屬連接被燒斷,鈍化層受到破壞,晶體管單元被燒壞。
ESD 還會引起 IC 的死鎖( LATCHUP)。這種效應和 CMOS 器件內(nèi)部的類似可控硅的結構單元被激活有關。高電壓可激活這些結構,形成大電流信道,一般是從 VCC 到地。串行接口器件的死鎖電流可高達 1A 。死鎖電流會一直保持,直到器件被斷電。不過到那時, IC 通常早已因過熱而燒毀了。
電路級ESD防護方法
1、并聯(lián)放電器件
常用的放電器件有TVS,齊納二極管,壓敏電阻,氣體放電管等。如圖
1.1、齊納二極管( Zener Diodes ,也稱穩(wěn)壓二極管 ) :利用齊納二極管的反向擊穿特性可以保護 ESD敏感器件。但是齊納二極管通常有幾十 pF 的電容,這對于高速信號(例如 500MHz)而言,會引起信號畸變。齊納二極管對電源上的浪涌也有很好的吸收作用。
1.2、瞬變電壓消除器 TVS(Transient Voltage Suppressor):TVS 是一種固態(tài)二極管,專門用于防止 ESD 瞬態(tài)電壓破壞敏感的半導體器件。與傳統(tǒng)的齊納二極管相比, TVS 二極管 P/N 結面積較大,這一結構上的改進使 TVS 具有較強的高壓承受能力,同時也降低了電壓截止率,因而對于保護手持設備低工作電壓回路的安全具有較好效果。
TVS二極管的瞬態(tài)功率和瞬態(tài)電流性能與結的面積成正比。該二極管的結具有較大的截面積,可以處理閃電和 ESD所引起的高瞬態(tài)電流。TVS也會有結電容,通常0.3個pF到幾十個pF。TVS有單極性的和雙極性的,使用時要注意。手機上用的TVS大約0.01$,低容值的約2-3分$。
1.3、多層金屬氧化物結構器件 (MLV):大陸一般稱為壓敏電阻。MLV也可以進行有效的瞬時高壓沖擊抑制,此類器件具有非線性電壓 - 電流 ( 阻抗表現(xiàn) ) 關系,截止電壓可達較初中止電壓的 2 ~ 3倍。這種特性適合用于對電壓不太敏感的線路和器件的靜電或浪涌保護,如電源回路,按鍵輸入端等。手機用壓敏電阻約0.0015$,大約是TVS價格的1/6,但是防護效果沒有TVS好,且壓敏電阻有壽命老化。
2、串聯(lián)阻抗
一般可以通過串聯(lián)電阻或者磁珠來限制ESD放電電流,達到防靜電的目的。如圖。如手機的高輸入阻抗的端口可以串1K歐電阻來防護,如ADC,輸入的GPIO,按鍵等。不要擔心0402的電阻會被打壞,實踐證明是打不壞的。這里不詳細分析。用電阻做ESD防護幾乎不增加成本。如果用磁珠,磁珠的價格大 約0.002$,和壓敏電阻差不多。
3、增加濾波網(wǎng)絡
**提到了靜電的能量頻譜,如果用濾波器濾掉主要的能量也能達到靜電防護的目的。
對于低頻信號,如GPIO輸入,ADC,音頻輸入可以用1k+1000PF的電容來做靜電防護,成本可以忽略,性能不比壓敏電阻差,如果用1K+50PF的壓敏電阻(下面講的復合防護措施),效果較好,經(jīng)驗證明這樣防護效果有時**過TVS。
對于射頻天線的微波信號,如果用TVS管,壓敏等容性器件來做靜電防護,射頻信號會被衰減,因此要求TVS的電容很低,這樣增加ESD措施的成本。對于微波信號可以對地并聯(lián)一個幾十nH的電感來為靜電提供一個放電通道,對微波信號幾乎沒有影響,對于900MHZ和1800MHz的手機經(jīng)常用22nH的電感。這樣能把靜電主要能量頻譜上的能量吸收掉很多。
4、復合防護
有一種器件叫EMI filter,他有很好的ESD防護效果,如圖。EMI filter也有基于TVS管的和基于壓敏電阻的,前者效果好,但很貴,后者廉價,一般4路基于壓敏電阻的EMI價格在0.02$。
實際應用中可以用下面的一個電阻+一個壓敏電阻的方式。他既有低通濾波器的功能,又有壓敏電阻的功能,還有電阻串聯(lián)限流的功能。是性價比較好的防護方式,對于高阻信號可以采用1K電阻+50PF壓敏;對于耳機等音頻輸出信號可以采用100歐電阻+壓敏電阻;對于TP信號串聯(lián)電阻不能太大否則影響TP的線性,可以采用10歐電阻。雖然電阻小了,低通濾波器效果已經(jīng)沒有了,但限流作用還是很重要的。
5、增加吸收回路
可以在敏感信號附件增加地的漏銅,來吸收靜電。道理和避雷針原理一樣。在信號線上放置**放電點(火花隙)在**手機設計中也經(jīng)常應用。
詞條
詞條說明
一、 靜電放電(ESD)原因正常情況下,物體呈現(xiàn)電中性。而物體會通過摩擦、感應等方式獲得電子或者失去電子,使物體帶電。我們知道絕緣體和導體之間不是**的,當能量足夠大的時候,就會把絕緣體擊穿,從而傳導電荷。物體電荷積累到足夠多的時候,就可能把本來不導電的空氣擊穿,從而泄放電荷,進入新的平衡。這就是靜電放電現(xiàn)象。通常由于擊穿,電阻就會很小,從而造成瞬間大電流。但這樣的靜電能量并不高,因此,大電流的持
EMI預兼容測試的基礎知識進行預兼容測試具有非常重要的意義,您不僅可以確保設備獲得測試機構的一致性認證,還可以保證產(chǎn)品開發(fā)按時完成。一旦您設計完電子產(chǎn)品,就該把它推向市場了,對嗎?沒錯,但并不確切。因為對于任何產(chǎn)品開發(fā),您都需要首先對設計的設備進行測試,驗證其性能是否達到預期。所有電子設備較終都必須通過一個重要測試?—?EMI(電磁干擾)全兼容測試。按照設備測試所依據(jù)的相應監(jiān)管
靜電放電(ESD)理論研究的已經(jīng)相當成熟,為了模擬分析靜電事件,前人設計了很多靜電放電模型。常見的靜電模型有:人體模型(HBM),帶電器件模型,場感應模型,場增強模型,機器模型和電容耦合模型等。芯片級一般用HBM做測試,而電子產(chǎn)品則用IEC 6 1000-4-2的放電模型做測試。為對 ESD 的測試進行統(tǒng)一規(guī)范,在工業(yè)標準方面,歐共體的 IEC 61000-4-2 已建立起嚴格的瞬變沖擊抑制標準;
ESD靜電放電模擬器試驗調(diào)試步驟及注意事項介紹首先,我們必須要消除對靜電的恐懼心理,要堅定地相信靜電是有跡可循的,是可以量化可以定位解決的,在實際解決靜電過程中,工程師往往花幾天甚至數(shù)個星期的時間去定位是哪個點被打死了,并且反復時有發(fā)生,陷入一籌莫展的境地,之所以會這樣,一是因為ESD存在傳導和耦合兩條干擾途徑,耦合本身就存在隨機干擾;二是ESD性能受結構整機和主板本省兩方面的影像。多個問題繞在一
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