VIC-3D非接觸全場應(yīng)變測量系統(tǒng)

時間：2018-03-12作者：研索儀器科技（上海）有限公司瀏覽：108

VIC-3D?非接觸全場測量系統(tǒng)，其技術(shù)源自美國南卡羅萊納大學(xué)(USC)——**DIC理論與技術(shù)的發(fā)源地，其制造商為成立自南卡大學(xué)并由NASA投資的美國Correlated Solutions, Inc.公司(以下簡稱CSI)。做為DIC技術(shù)的原創(chuàng)者，在
20年的研究與發(fā)展過程中，CSI公司始終**該技術(shù)的發(fā)展趨勢，并保持了在功能、精度、計算效率和穩(wěn)定性等方面的技術(shù)良好優(yōu)勢，擁有多項專有的DIC測量技術(shù)**。該測量系統(tǒng)采用高精度的數(shù)字圖像相關(guān)性運算法則，為試驗提
供測量范圍內(nèi)的3D全場的形貌、位移及應(yīng)變等數(shù)據(jù)信息。
系 統(tǒng)原理
VIC-3D?系統(tǒng)采用的數(shù)字圖像相關(guān)算法(Digital Image Correlation，以下簡稱DIC)，是一種通過圖像相關(guān)網(wǎng)格信息(圖示紅色標(biāo)示)進(jìn)行比對的算法，通過該方法可計算出物體表面位移及應(yīng)變分布。整個測量過程，只需以一臺(2D)或兩臺(3D)至多臺(陣列)圖像采集器，拍攝變形前后待測對象圖像，經(jīng)圖像比對運算后3D全場應(yīng)變數(shù)據(jù)分布即可一目了然。不像應(yīng)變片需花費大量時間做表面的磨平及黏貼，同時也只能測量到一個點某個方向的應(yīng)變數(shù)據(jù)。也不
像條紋干涉法對環(huán)境要求嚴(yán)格，而且DIC方法獲得的數(shù)據(jù)為測量范圍內(nèi)的3D全場數(shù)據(jù)信息。DIC技術(shù)在室內(nèi)室外的普通環(huán)境均可使用，應(yīng)變測量范圍從0.005%到2000%，配合不同的圖像采集硬件，測量對象尺度可以從納米級
到衛(wèi)星圖像的千米級，理論上只要能夠獲取高質(zhì)量的圖像，即可進(jìn)行精確的應(yīng)變與變形測量。
DIC 系統(tǒng)優(yōu)勢
? 直接測量全場應(yīng)變、位移、變形、形貌
? 直接測量全場振幅、ODS等振動信息
? 非接觸測量
? 試驗過程可追溯、可評估
? 相關(guān)圖像數(shù)據(jù)可反復(fù)分析處理，以實現(xiàn)不同研究目的，而無須重復(fù)試驗，節(jié)約經(jīng)濟(jì)和時間成本?????? ??


研索儀器科技（上海）有限公司專注于非接觸全場測量,應(yīng)變測量,數(shù)字圖像相關(guān),VIC-3D等

• 詞條

  詞條說明

• VIC-3D非接觸全場應(yīng)變測量系統(tǒng)

  VIC-3D?非接觸全場測量系統(tǒng)，其技術(shù)源自美國南卡羅萊納大學(xué)(USC)——**DIC理論與技術(shù)的發(fā)源地，其制造商為成立自南卡大學(xué)并由NASA投資的美國Correlated Solutions, Inc.公司(以下簡稱CSI)。做為DIC技術(shù)的原創(chuàng)者，在 20年的研究與發(fā)展過程中，CSI公司始終**該技術(shù)的發(fā)展趨勢，并保持了在功能、精度、計算效率和穩(wěn)定性等方面的技術(shù)良好優(yōu)勢，擁有多項專有的DIC測