表面異物凸起失效分析

時間：2017-10-24作者：優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)（深圳）有限公司瀏覽：544

表面異物凸起失效分析

 

導(dǎo)讀：異物雜質(zhì)的生成原因比較多，例如原材料不純、反應(yīng)有副產(chǎn)物、工藝控制不規(guī)范或工藝配方不成熟等。成都檢測中心可通過對異物分析，獲得其所含的元素、化學(xué)成分，再結(jié)合客戶對產(chǎn)品和工藝的了解找出異物產(chǎn)生的真正原因，幫助客戶對配方工藝等的改進(jìn)調(diào)節(jié)，進(jìn)而避免異物的產(chǎn)生。

1、案件信息

客戶產(chǎn)品為J64 底蓋，其基材為PC/ABS，表面經(jīng)噴漆處理?，F(xiàn)發(fā)現(xiàn)該配件出現(xiàn)凸起物。現(xiàn)需分析該配件出現(xiàn)凸起物的原因。 （樣品及樣品信息由客戶提供）

 



圖1  樣品圖片

備注：由圖可知，紅框所示位置存在表面凸起物。

2、測試方法

表面觀察：3D顯微鏡觀察

材質(zhì)分析：FTIR

元素分析：SEM+EDS

 

3  3D顯微鏡觀察



圖2 3D顯微鏡測試圖片 （位置一：1、2位置二：3、4）

注：圖2與圖1中所標(biāo)位置1、位置2彼此對應(yīng)。

4、FTIR測試



圖3 凸點、表面涂層、基材的FT-IR圖譜

▲如圖所示，凸點與表面涂層成份相近，均為含氨基甲酸酯基團(tuán)類化合物；基材成份為PC/ABS。

①凸起物的測試方式為將凸起物取下后，使用反射模式進(jìn)行測試。

②表面涂層的測試方式為使用全反射（ATR）模式直接測試噴漆表面。

③基材的測試方式為將含涂層的基材取下后，使用反射模式進(jìn)行測試。

 

5、SEM&EDS分析

▲試驗分析：據(jù)圖4、圖5和圖6所示試驗驗結(jié)果可知：凸點與涂層表面所含元素成份無明顯差異。

 



Spectrum	C	O	Si	Total
1	52.46	45.23	2.31	100.00
2	57.51	38.38	4.12	100.00
3	57.81	34.29	7.89	100.00

 

All results in weight%

圖4 樣品正常位置的SEM及EDS測試結(jié)果

 

 

Spectrum	C	O	Si	Total
1	56.26	35.72	8.02	100.00
2	57.28	30.53	12.19	100.00
3	57.77	37.29	3.94	100.00

 

All results in weight%

圖5 樣品凸點的SEM及EDS測試結(jié)果

注：本測試直接取凸起位置進(jìn)行測試。

 



Spectrum	C	O	Si
1	56.26	35.72	8.02
2	57.28	30.53	12.19
3	58.77	37.29	3.94
4	55.30	40.59	4.11
5	56.66	40.85	2.49
6	54.96	41.33	3.71

 

All results in weight%

圖6 凸點挑開后的SEM及EDS測試結(jié)果

注：本測試為將凸起位置挑開后，進(jìn)行測試。

 

結(jié)論

 

（1）由FTIR及EDS測試結(jié)果可知，凸起物的主要成分與表面涂層（即油漆）的成份相近，均為含氨基甲酸酯基團(tuán)的化合物；

（2）表面凸起物可能來源于油漆原料或噴漆制程。


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