電子產(chǎn)品做高低溫測(cè)試溫度是多少

    電子產(chǎn)品做高低溫測(cè)試溫度是多少


    隨著科技的進(jìn)步,我們的生活中出現(xiàn)的電子產(chǎn)品也就越來越多,就比如說我們?nèi)耸忠徊康氖謾C(jī)以及電腦、平板、相機(jī)等等,現(xiàn)在都已經(jīng)常見的電子產(chǎn)品了。不過可能很多用戶只是使用這些產(chǎn)品的方法,并不是非常清楚這些產(chǎn)品在出廠之前經(jīng)過了什么樣的檢測(cè)。較不清楚這些產(chǎn)品在出廠之間需要經(jīng)受什么樣的溫度環(huán)境。

    測(cè)試項(xiàng)目:低溫、高溫測(cè)試

    測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):GB/T2423.1-2008、GB/T2423.2-2008

    測(cè)試樣品:電工電子產(chǎn)品

    (低溫運(yùn)行、低溫貯存)試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)試件能否在長(zhǎng)期的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏、操縱控制,是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫下材料物理化學(xué)性能。標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測(cè)、樣品安裝、中間檢測(cè)、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。主要用于科研研究、醫(yī)遼用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲(chǔ)存。

    低溫條件下試件的失效模式:產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象。

    低溫環(huán)境對(duì)設(shè)備的主要影響有:

    a. 使材料發(fā)硬變脆;

    b. 潤滑劑粘度增加,流動(dòng)能力降低,潤滑作用減??;

    c. 電子元器件性能發(fā)生變化;

    d. 水冷凝結(jié)冰;

    e. 密封件失效;

    f. 材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。

    低溫測(cè)試目的:用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

    低溫測(cè)試的溫度有:

    -65℃

    -55℃

    -50℃

    -40℃

    -33℃

    -25℃

    -20℃

    -10℃

    -5℃

    +5℃



    深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于惠州振動(dòng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),惠州沖擊測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),江門高低溫測(cè)試,老化壽命測(cè)試公司,佛山防水測(cè)試,廣州電器檢測(cè)中心,東莞環(huán)境環(huán)保檢測(cè),河源玩具檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),湛江運(yùn)輸鑒定報(bào)告等

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    詞條說明

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