平**光束是什么？如何產(chǎn)生？

時(shí)間：2022-06-14作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：275

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  詞條說明

• 非線性光學(xué)晶體LBO，BBO，KTP 選型事項(xiàng)

  ? ? 維爾克斯光電代理的立陶宛Optogama非線性光學(xué)晶體在許多不同的非線性參量應(yīng)用中得到了廣泛的應(yīng)用。舉幾個(gè)例子，二次諧波產(chǎn)生、差頻產(chǎn)生、光參量放大等。為了用于特定的應(yīng)用，必須選擇合適的晶體。它應(yīng)該具有：在所需的光譜范圍內(nèi)的透明度，足夠的相位雙折射，高的非線性系數(shù)，高的光損傷閾值。立陶宛Optogama公司為基礎(chǔ)研究、應(yīng)用研究和工業(yè)應(yīng)用提供不同的非線性晶體。晶體生產(chǎn)技術(shù)有

• SPECIM高光譜儀是線掃描相機(jī)的原因

  一般的相機(jī)都是一次性直接成像的，因?yàn)樗麄儾捎玫拿骊噦鞲衅鲗?duì)圖像進(jìn)行一次性接收。而高光譜相機(jī)的成像方式比較特別，采用線掃描的方式進(jìn)行成像，本文就高光譜相機(jī)采用線掃描方式的原因進(jìn)行討論。高光譜相機(jī)基于探測(cè)器和成像光譜儀，其中高光譜成像儀用到一種技術(shù)——線掃描，它也被稱作線掃描高光譜相機(jī)、高光譜掃描儀、線掃描高光譜成像儀、高光譜儀、高光譜成像儀。該掃描儀通過使用分光鏡傳感器獲取圖像，通常用于遙感技術(shù)、產(chǎn)

• 線激光元件被用于晶圓檢測(cè)

  在半導(dǎo)體行業(yè)中，極小的表面缺陷和顆粒是一個(gè)主要問題，這會(huì)降低產(chǎn)量并耗費(fèi)生產(chǎn)的時(shí)間和成本。因此，檢測(cè)半導(dǎo)體晶圓表面的缺陷和污染至關(guān)重要，這是在半導(dǎo)體計(jì)量行業(yè)許多客戶面臨的挑戰(zhàn)。晶圓表面檢測(cè)的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場(chǎng)/明場(chǎng)顯微鏡來檢測(cè)缺陷，通常在深紫外（DUV）波長下檢測(cè)100nm以下的缺陷。在這種方法中，Holoor指出當(dāng)線沿徑向掃描時(shí)，晶圓旋轉(zhuǎn)，產(chǎn)生晶圓的大面積采樣，從而

• 法國Phasics 波前傳感器應(yīng)用

  法國Phasics SID4 波前傳感器系列在激光參數(shù)測(cè)試上的應(yīng)用（作為光斑分析儀）：Phasics波前傳感器可同時(shí)提供高分辨率的相位圖和強(qiáng)度圖。 它與SID4軟件結(jié)合使用，可以對(duì)激光束進(jìn)行完整的參數(shù)測(cè)試報(bào)告：波前像差，激光束參數(shù)，光束輪廓，M2光束質(zhì)量參數(shù)等等參數(shù)。其緊湊的設(shè)計(jì)可以直接定位在激光光束的任何位置，因此它可以直接測(cè)量發(fā)散光束。緊湊且易于對(duì)準(zhǔn)，無中繼透鏡的發(fā)散光束測(cè)量，光束輪廓。Pha