深圳光譜鍍層測厚儀通過這些方法避免誤差

時間：2023-05-05

作者：江蘇一六儀器有限公司

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X射線熒光光譜儀的技術瓶頸有哪些？
X熒光光譜儀是一種操作及配套簡單、設備輕便的元素成分及厚度分析的光學精密儀器。近年來不斷發(fā)展，在各行業(yè)都有廣泛的應用。X射線熒光光譜儀如今在電子/半導體、生產(chǎn)/鑄造、金屬涂鍍層處理、食品、醫(yī)藥、合格篩選(RoHs)、質量管控、環(huán)境監(jiān)控等諸多領域都有很好的發(fā)展。X射線熒光光譜儀在發(fā)展中遇到了很多瓶頸，那這都有哪些呢?今天就跟著X射線熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來了解一下吧。1.算法：理論分析方法
廣東一六x熒光光譜測厚儀的八大優(yōu)勢
廣東一六X熒光光譜測厚儀是一種高精度的測量設備，可以用于對金屬表面進行非接觸式測量。它的主要優(yōu)勢包括以下八個方面：高精度測量：廣東一六X熒光光譜測厚儀可以實現(xiàn)高精度的測量，其測量誤差可以達到0.1微米以下。全自動測量：該測厚儀采用全自動測量方式，可以實現(xiàn)對金屬表面的快速測量，提高了工作效率。非接觸式測量：廣東一六X熒光光譜測厚儀采用非接觸式測量方式，不會對金屬表面造成任何損傷。多種測量模式：該測厚
一六儀器生產(chǎn)的XAD系列光譜分析儀有哪些優(yōu)勢？
江蘇一六儀器生產(chǎn)的XAD系列熒光光譜儀是一款上照式全元素光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，也可滿足微區(qū)RoHS檢測及多元素成分分析，**的算法及解譜技術解決了諸多業(yè)界難題。1. 微小樣品檢測：較小測量面積0.008mm2 ;2. 變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-90mm ;3. *的EFP算法：Al(13)-U(92)元素的成分分析，Li(3
熒光光譜儀生產(chǎn)廠家教你如何去評估光譜儀的好壞
我們如果要選擇一臺好的熒光光譜儀，首先需要要避免的誤區(qū)是僅僅看儀器的配置是什么。熒光光譜儀是否是的，較終應該是體現(xiàn)在其應用水平上，首先保證是否可以滿足需求的功能，達到元素識別、產(chǎn)品評估、定位、生產(chǎn)管控等目的。今天就跟著熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來看一看吧。1.較小測量面積熒光光譜儀是否可以測試微小樣品，目前**的較小可以測到0.05mm直徑，實現(xiàn)精準定位測試。2.可測樣品的形狀熒光光