X熒光光譜的基體效應(yīng)的種類與分析

時間：2022-09-29作者：昆山市周市牧亞凱機電設(shè)備商行瀏覽：163

X熒光光譜的基體效應(yīng)的種類與分析

在X射線熒光分析中，隨著相對高精度和穩(wěn)定設(shè)備的發(fā)生和發(fā)展，基材效應(yīng)已成為原素定量分析和測量中分析偏差的來源。基材效應(yīng)是指樣品較基本的化學(xué)成分和物理**化學(xué)條件的變化，以及對射線強度分析的影響。樣品較基本的化學(xué)成分一般是指包括分析元素在內(nèi)的主要元素；樣品物理**化學(xué)條件一般包括固體粉末粒度、樣品表面光滑度或表面粗糙度、樣品均勻性及其原素在樣品中的**化學(xué)狀態(tài)。因此，基材效應(yīng)可分為兩種：
1)吸收和激起(提高)效應(yīng)
①原級入射線進入樣品時的吸收效應(yīng)；
②熒光譜線被樣品吸收或分析原素受樣品中其他元素的影響；
③三級激起效應(yīng)。
隨著樣品基材化學(xué)成分的不同，上述吸收和激起效應(yīng)發(fā)生變化。
2)其他物理效應(yīng)
①樣品的均勻性、粒度和表面效應(yīng)；
②**化學(xué)態(tài)的變化對分析線的強度有害。
以上兩類物理**化學(xué)效應(yīng)，尤其是**類，往往會對分析線的強度進行精確測量產(chǎn)生重要偏差。
二、吸收和激起效應(yīng)
中短波側(cè)給出的元素一定的吸收限，質(zhì)量透射系數(shù)pm快速伴隨光波長λ改進和增加，依據(jù)式的增加μm=Kλm和勒魯?shù)难芯砍晒槍Χ鄠€關(guān)鍵家譜圖，0.18-10A的波長，λ冪值m變?yōu)?.1~2.8中間。因此，短波側(cè)光譜線越接近吸收限，吸收或損耗就越大。而且，對于一個地圖，因為km隨著變化的不斷變化，樣品中的吸收和激發(fā)效應(yīng)也隨著光譜的光波長而不斷變化，直到光波長增加到一定的吸收限制，質(zhì)量傳輸系數(shù)pm突然發(fā)生了變化。
在吸收和激起效應(yīng)中，較重要的是原級入射線進入樣品時的吸收效應(yīng)和熒光譜線出射時樣品的吸收效應(yīng)或其他元素的繼發(fā)效應(yīng)。對于化學(xué)成分不同類型的樣品，當(dāng)分析元素含量相同時，吸收和激起效應(yīng)反映在對同一分析線強度的危害上，關(guān)鍵原級入射線與分析線協(xié)同質(zhì)量透射系數(shù)的差異。
三、粒度效應(yīng)
在熒光強度的推導(dǎo)公式中，假設(shè)樣品均勻光滑。但事實上，只有液體樣品或**屬或一些鋁合金樣品才能滿足這一條件。對于一般固體樣品，特別是粉末樣品，往往存在樣品不均勻、粒度效應(yīng)和表面效應(yīng)。
對稱樣品，對于固態(tài)粉末樣品，是指粉末粒度和化學(xué)成分完全相同的樣品。研究表明，在已知的卡緊份額下，粒度越低，熒光譜強度越大。對于給定的粒度，壓力越大，即卡緊份額越低，熒光譜抗壓強度越高。不對稱樣品不同。在不均勻樣品中，有許多不同粒度或化學(xué)成分的顆粒，影響熒光譜抗壓強度的因素將較加復(fù)雜。
四、表面效應(yīng)
樣品表面狀況與熒光光譜強度之間的關(guān)系不容忽視。當(dāng)樣品由耐磨材料、鋸片或鋒形材料制成一定尺寸的小物件時，表面需要適度拋光或拋光。
熒光光譜的抗壓強度不僅與樣品的表面結(jié)構(gòu)和紋溝的特性有關(guān)，還受到樣品部位、紋溝和X射線進出方向的危害。對于后一種，樣品可以在測量過程中同時旋轉(zhuǎn)或減少去除。如果不能旋轉(zhuǎn)，紋溝的方向應(yīng)與出射線和出射線平行。
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