美國Thorlabs雙折射顯微鏡成像系統(tǒng)-LCC7201

時間：2022-05-10作者：天津瑞利光電科技有限公司瀏覽：84

天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷美國Thorlabs雙折射顯微鏡成像系統(tǒng)LCC7201

產(chǎn)品型號：LCC7201

關(guān)鍵字：Thorlabs雙折射顯微鏡成像系統(tǒng)LCC7201

關(guān)鍵字描述：

產(chǎn)品介紹：

平坦樣品中的延遲度和方位角（快速軸方向）的測量

在<15 s內(nèi)測量直徑20mm的視場

包括三個用于直徑0.5英寸，直徑1英寸和2英寸x 2英寸光學(xué)元件的樣品架

LCC7201雙折射成像系統(tǒng)用于學(xué)術(shù)研究、醫(yī)療診斷、工業(yè)制造和產(chǎn)品質(zhì)量保證，可以測量晶體和液晶設(shè)備等平整的平面樣品的相位延遲和方位角，非常適合檢測由應(yīng)力引起的雙折射特性。由于該系統(tǒng)基于液晶器件，其內(nèi)部沒有相對機(jī)械運(yùn)動，從而在運(yùn)行過程中非常穩(wěn)定，毫無振動干擾。LCC7201工作的波長為633 nm，提供直徑20 mm的視場。該系統(tǒng)所測相位延遲范圍為半波長（max.316 nm），方位角范圍為±90°。此外，還可以定制波長范圍從405 nm到810 nm的工作波長。

參數(shù)：

光源波長：633 nm

延遲測量范圍

標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍：0至316 nm

低延遲范圍：0至100 nm

方位角測量范圍：±90°

延遲測量

精度標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍：<±10 nm

低延遲范圍：<±1 nm

方位角測量精度

標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍：<±3°

低延遲范圍：<±1°

測量速率：<15 s

視場：直徑20mm

空間分辨率：9.77μm

接口：USB 2.0和千兆以太網(wǎng)

相機(jī)分辨率：2048 x 2048像素

尺寸：500.0 mm（D）x 360.0 mm（W）x 672.0 mm（H）

重量：26 kg（57.3 lbs）

工作溫度：0至40°C

儲存溫度：-15至65°C

隨附的配件：筆記本電腦，樣品架，雙折射分辨率目標(biāo)（Item R2L2S1B）

 

 

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