國(guó)產(chǎn)的RoHS儀器有哪些

時(shí)間：2024-11-04作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：872

國(guó)產(chǎn)的RoHS儀器有哪些

工廠內(nèi)管控ROHS儀器主要是EDX進(jìn)行粗選
精密檢測(cè)的主要是ICP-OES、UV-VIS、GC/MS。
國(guó)產(chǎn)比較**的大概就是天瑞~~
但是個(gè)人建議如果你單純是想管控ROHS的話不要去購(gòu)買所謂的EDX檢測(cè)設(shè)備。
原因在于EDX只能管控元素，即Pb\Cd\Cr\Br\Hg，不能管控Cr6+和PBBs&PBDEs

到時(shí)用EDX檢測(cè)出來(lái)Br很***標(biāo)，但是不一定就是PBB&PBDE**標(biāo)，到時(shí)管和不管都是問(wèn)題

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 膜厚儀的影響因素有哪些呢?*是這樣解釋的

  膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測(cè)設(shè)備，它在平時(shí)的使用中對(duì)于精準(zhǔn)度的要求很高，但是還是會(huì)有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的一大“元兇”，本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說(shuō)明： 1、基體金屬磁性質(zhì) 磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)

• 南京rohs2.0檢測(cè)儀

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• x射線熒光光譜分析儀

  x射線熒光光譜分析儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無(wú)損分析。通過(guò)智能真空系統(tǒng)排除了空氣中的其他元素干擾，從而對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果。天瑞儀器結(jié)合國(guó)外相關(guān)較新的技術(shù)發(fā)展成果，以**現(xiàn)有的x射線熒光分析技術(shù)為基礎(chǔ)，在一代、二代和三代的開(kāi)發(fā)基礎(chǔ)上，加入了全新的元素，研制出具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的，滿足市場(chǎng)需求的智能、高精度的x射線熒光光譜分析儀系列產(chǎn)品。

• 泰州X熒光光譜儀

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