手持式光譜分析儀原理
手持式光譜分析儀為各行各業(yè)的工作人員提供了很大的方便,操作者可以從心所欲地進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析和原位分析等測(cè)試。它也是目前在國內(nèi)比較廣泛生產(chǎn)和運(yùn)用的儀器。
詞條
詞條說明
鍍層厚度測(cè)試儀的工作原理是鍍層厚度測(cè)試儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強(qiáng)度來。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度,因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí),鍍層厚度測(cè)試儀測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。鍍層厚度測(cè)試儀優(yōu)勢(shì):耐腐蝕性驗(yàn)證所用涂料的厚度和化學(xué)性,以確保在惡劣環(huán)境中的產(chǎn)品功能和壽命。小的緊固件或大組件都可輕松處理。
判斷金屬元素很簡(jiǎn)單的方法就是:煅燒法.每種金屬元素在煅燒的時(shí)候,顏色不一樣.比如鈉是黃色.如果要鑒定金屬元素的含量:1.光譜分析儀.優(yōu)點(diǎn)是一次可以分析多種元素,精度較高.缺點(diǎn)是ROHS光譜儀儀器太高,一套幾十萬到上百萬,所以目前只有少數(shù)大型企業(yè)使用.2.分光光度計(jì).優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)波長(zhǎng)選擇方便,ROHS光譜儀儀器不高.缺點(diǎn)是檢測(cè)結(jié)果不能直接顯示(要換算);沒有曲線建立調(diào)用功能,檢測(cè)不同元素每次要重新定標(biāo)
1、原理:X射線照射樣品,經(jīng)過鍍層界面,射線返回的信號(hào)發(fā)生突變,根據(jù)理論上同材質(zhì)無限厚樣品反饋回強(qiáng)度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測(cè)試很困難(信號(hào)分不開)。2、XRF鍍層測(cè)厚儀:俗稱X射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等。功能:精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度。應(yīng)用范圍:測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測(cè)量范圍從22(Ti)到92(U)。
手持式光譜儀在使用的時(shí)候,對(duì)于環(huán)境是有一定的要求,不要在潮濕的環(huán)境下工作的,環(huán)境濕度0-95%之間為較好,不能在太高溫下操作工作,這樣的理由是避免各類磁場(chǎng)的干擾,如此儀器分析的時(shí)候才能檢測(cè)出較精確的精度。所以,大家在工作的時(shí)候要注意環(huán)境的適合度,很多時(shí)候儀器檢測(cè)不標(biāo)準(zhǔn)跟環(huán)境還是有很大程度上的關(guān)系。一、手持式光譜儀對(duì)于操作人員也是要一定要求的,測(cè)試樣品**定要請(qǐng)儀器廠商的技術(shù)人員現(xiàn)場(chǎng)演示,并且對(duì)技術(shù)
聯(lián)系人: 李經(jīng)理
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