免費(fèi)捐贈(zèng)探針臺(tái)

時(shí)間：2020-03-20作者：儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司瀏覽：120

援助方案分兩部分，總****過(guò)100**民幣。


1、免費(fèi)捐贈(zèng)探針臺(tái)產(chǎn)品（5臺(tái)）
??A、?ADVANCED PW-400-PCKG???3套?????????
每套配置如下：
PW-400：4 inch chuck（探針臺(tái)主體）???????	1 pcs??
SMZ-168：?20X目鏡?15-100x放大(體式顯微鏡)??	1 pcs??
ADV-5M：?500萬(wàn)像素，操作軟件（CCD）??	1 pcs??
MP-01：?80TPI,仰角機(jī)構(gòu)，磁性底座(探針座)??	4 pcs??
TriaxiaProbe Holder：?三軸線纜 ，2.1m，50fA （線纜）??	4 pcs??
GGB ST series：?0.2um，1um，2um，5um，10um，20um可選（直流針）?	2 box??
VP0125：?7L/min 靜音無(wú)油（真空泵）??	1 pcs??
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??B、ADVANCED MPW-600-PCKG???2套????????
每套配置如下：


MPW-600：?6 inch chuck（探針臺(tái)主體）???????	1 pcs??
SMZ-168：?20X目鏡?15-100x放大(體式顯微鏡)??	1 pcs??
ADV-5M：?500萬(wàn)像素，操作軟件（CCD）??	1 pcs??
MP-06：?100TPI,仰角機(jī)構(gòu)，磁性底座(探針座)??	4 pcs??
TriaxiaProbe Holder：?三軸線纜，2.1m，50fA （線纜）??	4 pcs??
GGB ST series：?0.2um，1um，2um，5um，10um，20um可選（直流針）?	2 box??
VP0125：?7L/min 靜音無(wú)油（真空泵）??	1 pcs??


2、特價(jià)支持探針臺(tái)產(chǎn)品（9臺(tái)）。????
????
服務(wù)**：所有探針臺(tái)產(chǎn)品都免費(fèi)安裝，保固一年；
發(fā)貨時(shí)間：所有探針臺(tái)產(chǎn)品5月初統(tǒng)一安排出貨事宜；
項(xiàng)目對(duì)接人：趙工13488683602；微信a3608433128
申請(qǐng)對(duì)象要求：????????
??湖北省境內(nèi)從事半導(dǎo)體芯片研究、生產(chǎn)的企業(yè)和高校（申請(qǐng)單位和安裝地需同地）。
由于數(shù)量有限，申請(qǐng)對(duì)象的**順序：
（1）芯片產(chǎn)業(yè)：
****級(jí)：芯片設(shè)計(jì)公司；
*二**級(jí)：芯片生產(chǎn)制造公司（封裝和晶圓代工）；
*三**級(jí)：系統(tǒng)廠商；
（2）科研教育：
****級(jí)：大中專院校
*二**級(jí)：本科院校
*三**級(jí)：重點(diǎn)院校


申請(qǐng)時(shí)間：即日起至2020年4月28日

較終結(jié)果公示時(shí)間：2020年4月30日（按照**原則和申請(qǐng)時(shí)間來(lái)確定免費(fèi)贈(zèng)與名單并公示）


儀準(zhǔn)科技（北京）有限公司專注于手動(dòng)探針臺(tái),probe,station等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 招聘半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室銷售工程師

  事業(yè)單位招聘 科委檢測(cè)中心招聘失效分析崗位：半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室銷售人員，半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室銷售總監(jiān)，半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室銷售經(jīng)理，半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室銷售工程師，半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室銷售專員。開(kāi)發(fā)維護(hù)失效分析客戶，實(shí)驗(yàn)室擁有完善的設(shè)備和技術(shù)團(tuán)隊(duì)，成熟的測(cè)試分析流程。主要分析項(xiàng)目包含Decap;X-Ray;3D X-Ray;SAT;IV;FIB;EMMI;SEM;EDX;OM;Probe;切割制樣;Rie;**研磨;非**研磨;高溫存

• 手動(dòng)探針臺(tái)廠家介紹

  儀準(zhǔn)科技有限公司是一家專業(yè)的半導(dǎo)體分析設(shè)備的整合商，產(chǎn)品涵蓋半導(dǎo)體、LCD (TFT)、LED、太陽(yáng)能等高科技領(lǐng)域。 近年來(lái)，金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效電晶體(MOSFET)已經(jīng)成為切換電源的主要功率元件，從場(chǎng)效應(yīng)晶體管 (FET)、雙極性結(jié)式晶體管(BJT)、MOSFET、到絕緣閘較雙較晶體管(IGBT)，現(xiàn)在出現(xiàn)了氮化鎵(GaN)，可讓切換電源的體積大幅縮小。 例如，納微半導(dǎo)體(Navitas)推出

• 芯片測(cè)試方法匯總

  芯片失效分析檢測(cè)方法匯總 失效分析 趙工 1 、C-SAM（超聲波掃描顯微鏡)，無(wú)損檢查:１.材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu)，雜質(zhì)顆粒．夾雜物．沉淀物．2. 內(nèi)部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等. 德國(guó) 2 、X－Ray（這兩者是芯片發(fā)生失效后首先使用的非破壞性分析手段），德國(guó)Fein 微焦點(diǎn)Xray用途：半導(dǎo)體BGA，線路板等內(nèi)部位移的分析 ；利于判別空焊，虛焊等BGA焊接缺陷. 參數(shù)：標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)

• 失效分析含義和具體操作

  失效分析技術(shù)，失效分析實(shí)驗(yàn)室，失效機(jī)制是導(dǎo)致零件、元器件和材料失效的物理或化學(xué)過(guò)程。此過(guò)程的誘發(fā)因素有內(nèi)部的和外部的。在研究失效機(jī)制時(shí)，通常先從外部誘發(fā)因素和失效表現(xiàn)形式入手，進(jìn)而再研究較隱蔽的內(nèi)在因素。在研究批量性失效規(guī)律時(shí)，常用數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法，構(gòu)成表示失效機(jī)制、失效方式或失效部位與失效頻度、失效百分比或失效經(jīng)濟(jì)損失之間關(guān)系的排列圖或帕雷托圖，以找出必須首先解決的主要失效機(jī)制、方位和部位。任一產(chǎn)品