AMS2750標(biāo)準(zhǔn)是美國宇航局現(xiàn)行使用的關(guān)于宇航材料高溫測量法的規(guī)定,新版的AMS2750F在E版本上進(jìn)行了經(jīng)驗(yàn)和技術(shù)要求上的革新,涉及的板塊有:溫度傳感器、儀表、熱處理工藝設(shè)備、系統(tǒng)精度校驗(yàn)、爐溫均勻性測量、試驗(yàn)爐、記錄等方面,對校驗(yàn)的方法和頻次也有了明確的規(guī)定,宏展科技是在AMS 2750F版基礎(chǔ)上進(jìn)行了經(jīng)驗(yàn)匯集和技術(shù)革新,獨(dú)立研發(fā)具有優(yōu)良性能的試驗(yàn)箱,以適應(yīng)不斷變化的市場變化,在激烈的競爭中激流勇上!
該標(biāo)準(zhǔn)是由美國波音公司提出的,現(xiàn)在被航天航空企業(yè)廣泛采用,該標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)施背景又有什么故事呢?
2018年5月電影院上映了一部《*機(jī)長》,電影講述從重慶飛往拉薩的某航的航班,在9800米的高空中,駕駛艙右座前風(fēng)擋玻璃突然破裂脫落。在完全不適合人類生存的環(huán)境下,機(jī)長劉長健依然保持了冷靜,爭分奪秒,緊急備降,飛機(jī)終成功著陸成都雙流機(jī)場,所有乘客平安落地。
這是一個(gè)真實(shí)故事改編的,故事很驚心動(dòng)魄,結(jié)果很美好。截至2020年,全世界空難事故達(dá)到363起,每起空難都是九死一生,空難的事故可能是因?yàn)轱w機(jī)零部件的質(zhì)量問題、系統(tǒng)故障或外部的不可抗力因素等。
正是因?yàn)?/span>AMS2750標(biāo)準(zhǔn)注重質(zhì)量和法規(guī)遵從性,哪怕一顆鉚釘都必須根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行熱處理工藝。那如何證明熱處理是不是嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行呢?標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定零部件的熱處理工藝數(shù)據(jù)必須是不可修改,要保存長達(dá)5年。除了這些數(shù)據(jù)外,AMS2750還定義了:
1.儀器儀表種類。根據(jù)熱處理工藝的要求,配置控制器、記錄儀、熱電偶等。
2.有效工作空間內(nèi)的溫度均勻性TUS。零部件必須放在熱處理爐的有效空間內(nèi),爐內(nèi)保持每一個(gè)面的溫度受熱均勻性,并規(guī)格受熱相差范圍。
3.設(shè)備周期性檢測校準(zhǔn)及相應(yīng)的記錄。熱處理爐需要根據(jù)等級和配置定期校驗(yàn),不可中斷。校驗(yàn)數(shù)據(jù)具有不可修改性,須保存5年。
作為有著17年環(huán)境試驗(yàn)箱經(jīng)驗(yàn)的宏展科技,在生產(chǎn)的環(huán)境試驗(yàn)箱中一直引用著高標(biāo)準(zhǔn)的要求嚴(yán)格要求自身和產(chǎn)品設(shè)備的研發(fā)。
宏展科技研發(fā)中心在研發(fā)設(shè)計(jì)高溫試驗(yàn)箱和熱處理爐上按照AMS2750E的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)與研發(fā),為新型材料的測試實(shí)驗(yàn)提供信賴的儀器設(shè)備,為客戶提供便捷的環(huán)境試驗(yàn)箱。
溫度循環(huán)試驗(yàn)箱測試流程分享
宏展科技研發(fā)中心在研發(fā)設(shè)計(jì)高溫試驗(yàn)箱時(shí)按照相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)與研發(fā),為新型材料的測試實(shí)驗(yàn)提供信賴的儀器設(shè)備,為客戶提供便捷的環(huán)境試驗(yàn)箱,出貨前技術(shù)部門都會(huì)進(jìn)行測試,達(dá)到合格的設(shè)備才會(huì)送到客戶手中!接下來給大家分享我們溫度循環(huán)試驗(yàn)箱的測試流程。
1、在樣品斷電的狀態(tài)下,先將溫度下降到-50°C,保持4個(gè)小時(shí);請勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測試,非常重要,因?yàn)橥姞顟B(tài)下,芯片本身就會(huì)產(chǎn)生+20°C以上溫度,所以,在通電狀態(tài)下,通常比較容***低溫測試,必須先將其“凍透”,再次通電進(jìn)行測試。
2、開機(jī),對樣品進(jìn)行性能測試,對比性能與常溫相比是否正常。
3、進(jìn)行老化測試,觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯(cuò)誤。
4、升溫到+90°C,保持4個(gè)小時(shí),與低溫測試相反,升溫過程不斷電,保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài),4個(gè)小時(shí)后,執(zhí)行2、3、4測試步驟。
5、高溫和低溫測試分別重復(fù)10次。
如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài),則視為測試失敗。
詞條
詞條說明
ZD系列小型溫濕度箱 型號*1 ZDT(H)100L ZDT(H)200L ZDT(H)100U ZDT(H)200U 電源 交流380V 50赫茲 3相+N+PE 較大電流 8 12 10 12 最大功率 2.5/3.5 3.8/4.8 3.3/3.5 5.2/5.2 使用環(huán)境溫/濕度 +15~+35℃/≤85%RH 控制方式 平衡調(diào)溫(調(diào)濕)方式(BT(H)C) 性能*3 溫度范圍 -40℃~
半導(dǎo)體芯片在進(jìn)行高低溫測試時(shí)的注意事項(xiàng)
半導(dǎo)體芯片高低溫測試是jin屬、元器件、電子汽車配件、化學(xué)材料等材料行業(yè)經(jīng)常能用到的測試,用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料。在經(jīng)過高溫及較低溫的連續(xù)變化環(huán)境試驗(yàn)我們可以檢測出半導(dǎo)體芯片忍受較端溫度變化的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理損傷。在做半導(dǎo)體芯片高低溫測試需要特別注意,在使用的過程中不能輕易打開半導(dǎo)體芯片高低溫測試箱,主要原因如下:1.做半導(dǎo)體芯片高低溫測試時(shí)需要用
中原利達(dá)鐵路軌道技術(shù)發(fā)展有限公司選用宏展環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備!
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1、使用該儀器須有專人負(fù)責(zé),設(shè)備使用完畢應(yīng)切斷外來電源,免除意外事故發(fā)生。 2、工作室內(nèi)放置試品時(shí),不能太密,以免影響工作室內(nèi)氣流的正常流動(dòng),每個(gè)物品之間須有10~20mm間隙,而且對稱放置,每層擱板上的物品放置要交錯(cuò),*底層擱板的距離與工作室底部必須有大于100mm的距離。3、在設(shè)備周圍應(yīng)留一定的空間,便于設(shè)備散熱及操作和維護(hù)。 4、控溫系統(tǒng)其他部件故障(用萬用電表測出故障所在,據(jù)情修理)。 5
公司名: 廣東宏展科技有限公司
聯(lián)系人: 曾小姐
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