優(yōu)爾鴻信檢測|IC (集成電路)檢測的常用方法有哪些？

時(shí)間：2025-01-16作者：優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：39

集成電路（IC）檢測是確保其質(zhì)量和性能的關(guān)鍵步驟，以下是一些常用的檢測方法：




一、外觀檢查




這是較基本的檢測方法。通過肉眼或借助放大鏡來檢查 IC 的引腳是否有彎曲、折斷、氧化等情況。同時(shí)，查看芯片表面是否有劃痕、裂紋、污漬或其他物理損壞。對于封裝體，檢查其標(biāo)記是否清晰、完整，確保型號等信息準(zhǔn)確無誤，因?yàn)闃?biāo)記錯(cuò)誤可能會(huì)導(dǎo)致使用錯(cuò)誤的芯片。




二、功能測試




在線測試（ICT）

這是在電路板上對 IC 進(jìn)行測試的方法。通過向 IC 的引腳施加特定的激勵(lì)信號，如電壓、電流等，然后檢測其輸出信號是否符合預(yù)期。它可以檢測 IC 的邏輯功能，例如對于一個(gè)邏輯門電路 IC，可以檢查與門、或門等邏輯功能是否正常工作。

這種方法能夠快速篩選出功能明顯異常的 IC，但對于一些軟故障（如在特定復(fù)雜條件下才出現(xiàn)的故障）可能無法有效檢測。

自動(dòng)測試設(shè)備（ATE）測試

ATE 是專門用于 IC 測試的高精度設(shè)備。它可以對 IC 進(jìn)行全面的功能測試，包括模擬電路部分和數(shù)字電路部分。例如，對于一個(gè)包含模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）的 IC，ATE 可以測試其模擬輸入信號的轉(zhuǎn)換精度、轉(zhuǎn)換速度等參數(shù)，以及數(shù)字輸出信號的正確性。

ATE 測試能夠提供詳細(xì)的測試報(bào)告，準(zhǔn)確地定位 IC 的功能故障點(diǎn)，但設(shè)備成本較高。

三、電氣參數(shù)測試




直流參數(shù)測試

主要測量 IC 的直流工作特性，如電源電流、輸入輸出高 / 低電平電壓等。例如，通過測量數(shù)字 IC 的輸入高電平電壓范圍（VIH）和輸入低電平電壓范圍（VIL），可以確定該 IC 能夠正常工作的輸入電壓條件。

交流參數(shù)測試

用于檢測 IC 的動(dòng)態(tài)性能，如信號傳輸延遲、上升時(shí)間和下降時(shí)間等。對于高速數(shù)字 IC，信號的傳輸延遲是一個(gè)關(guān)鍵參數(shù)。通過使用高精度的示波器等設(shè)備，可以測量 IC 引腳間信號的傳輸延遲，確保其能夠滿足系統(tǒng)的高速運(yùn)行要求。





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