影響臺式X熒光光譜儀分析時的測量度的因素有哪些?

    臺式X熒光光譜儀現(xiàn)如今已經(jīng)成為眾多領域的普遍檢測方法,可以迅速篩查多種類樣品基質如固體、泥漿、粉末、糊狀物、薄膜、空氣過濾物以及其它很多基質樣品中的未知成分。影響X熒光光譜儀測量度的因素有很多,比如有儀器本身的性能、工作曲線、測試樣品和測試方法等。接下來小編給大家簡單的介紹下。

    X熒光光譜儀的測量度受到多種因素的影響,包括

    樣品制備和樣品自身:樣品的均勻性、表面效應、粒度和處理方法、存在的譜線干擾、本身的共存元素影響即基體效應、樣品的性質以及標準樣品的化學值的準確性等。

    樣品物理狀態(tài):樣品的顆粒度、密度、光潔度,樣品的沾污、吸潮,液體樣品的受熱膨脹,揮發(fā)、起泡、結晶及沉淀等。

    樣品組分分布:樣品組分的偏析、礦物效應等。

    樣品組成不一致:引起吸收、增應的差異造成的誤差。

    被測元素化學結合態(tài)的改變:樣品氧化,引起元素百分組成的改變;輕元素化學價態(tài)不同時,譜峰發(fā)生位移或峰形發(fā)生變化引起的誤差。

    制樣操作:在制樣過程中的稱量造成的誤差,稀釋比不一致,樣品熔融不完全,樣品粉碎混合不均勻,用于合成校準或基準試劑的純度不夠等。

    工作曲線:工作曲線是指元素之中X射線的強度及樣品當中蘊含的百分質量、含量關系的曲線,以工作曲線能夠獲取測量特性是X射線強度實現(xiàn)轉化成濃度,所以在測量結果受到工作曲線較大的影響。其不僅和待測元素、濃度、校正元素因子、增強元素之間的吸收效應等相關的校正值,還關系到工作曲線樣品的制作、是否存在偏移、適用范圍等。

    因此,在使用臺式X熒光光譜儀進行測量時,需要綜合考慮這些因素,以確保測量結果的準確性和可靠性。

    創(chuàng)想臺式X熒光光譜儀


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    詞條說明

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