中框陽極麻點(diǎn)原因

時間：2025-01-16作者：優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：220

背景：客戶量產(chǎn)中框制程：Al6013鋁擠料→粗加工→納米注塑→CNC→拋光→陽極染色。客戶發(fā)現(xiàn)陽極后表面出現(xiàn)點(diǎn)狀、片狀、線狀麻點(diǎn)，不良率~10%。為此委托實(shí)驗室分析陽極麻點(diǎn)原因，便于制程改進(jìn)。


01.樣品信息及分析方式
1.問題描述:

客戶反饋量產(chǎn)中框制程時，發(fā)現(xiàn)陽極后表面出現(xiàn)點(diǎn)狀、片狀、線狀麻點(diǎn)，不良率~10％。委托實(shí)驗室分析陽極麻點(diǎn)原因，便于制程改進(jìn)。
圖1  異常試樣

測試項目、規(guī)范及設(shè)備信息：



02.分析數(shù)據(jù)
檢測結(jié)果
2.1 試樣表面SEM+EDS分析
對1~3#試樣表面麻點(diǎn)進(jìn)行SEM +EDS分析，結(jié)果如圖2~3及表1所示：
●  1#點(diǎn)狀麻點(diǎn)試樣呈現(xiàn)為塊狀異物沾附在陽極膜層表面的形態(tài)，成分以C、O及C、N、O為主，很有可能兩者都來自拋光耗材；
●  2#試樣片狀麻點(diǎn)為表面孔洞，其Ni含量較高，很有可能孔洞位置殘留封孔液；

●  3#試樣線狀麻點(diǎn)主要是沾附于試樣表面的粉末狀與塊狀異物；粉末狀異物主要成分含有Fe，很有可能是陽極線體機(jī)架上的溶液滴落造成；塊狀異物成分主要為C、O，應(yīng)與1#點(diǎn)狀麻點(diǎn)形態(tài)接近，很有可能兩者都來自拋光耗材。

圖2   試樣表面麻點(diǎn)形貌圖




圖3   EDS分析位置

表1    EDS分析結(jié)果

2.2 陽極膜分析
對1~3#試樣陽極膜尺寸及形態(tài)進(jìn)行觀察，如圖4及表2所示，可以發(fā)現(xiàn)：
● 1/3#試樣的陽極膜結(jié)構(gòu)完整，膜厚均勻，均~11 μm；
● 2#試樣正常位置陽極膜層結(jié)構(gòu)完整，膜厚與1/3#試樣膜厚一致，但在麻點(diǎn)位置陽極膜破損，陽極區(qū)域深入基材~28 μm，很有可能在試樣陽極前已經(jīng)存在這樣一條縫隙。


圖4     陽極膜形貌圖(500X)




表2   陽極膜厚度

2.3 2#試樣切面EDS成分分析
對2#試樣麻點(diǎn)區(qū)域切面異常位置進(jìn)行分析，結(jié)果圖5及表3所示：
● 2#試樣分析位置的成分為O、Al，與陽極膜成分基本一致，可以判定其在陽極過程中被陽極氧化，這個小縫隙應(yīng)該在陽極前就存在，縫隙內(nèi)部未發(fā)現(xiàn)腐蝕性元素Cl等，因此可以排除腐蝕的可能性，推測可能是內(nèi)部存在裂紋。


2.4 試樣組織分析
對1~3#試樣組織進(jìn)行觀察，如圖6及表4所示，可以發(fā)現(xiàn)：
●  1~3試樣的夾雜物尺寸較小，均小于10μm，符合檢規(guī)規(guī)定；
●  三個試樣晶粒度等級均符合檢規(guī)規(guī)定，但2#試樣晶粒要明顯粗大；
●  三試樣析出物尺寸較小，無異?，F(xiàn)象。





表4    晶粒度等級

2.5 硬度測試
對1--3#試樣硬度進(jìn)行測試，結(jié)果如表5所示，可以發(fā)現(xiàn)：
●  三試樣的硬度基本一致，符合檢規(guī)規(guī)定。

表5    硬度

2.6 化學(xué)成分測試
對1~3#試樣化學(xué)成分進(jìn)行測試，結(jié)果如表6所示，可以發(fā)現(xiàn)：
● 三試樣化學(xué)成分均符合Al 6061檢規(guī)規(guī)定。

表6   化學(xué)成分(Unit:%)

03、結(jié)論及建議
結(jié)論：
3.1  試樣材質(zhì)、硬度及組織均符合檢規(guī)規(guī)定 ；

3.2  點(diǎn)狀麻點(diǎn)應(yīng)是試樣上塊狀異物造成的視覺效應(yīng) ，塊狀異成分主要為 C、O或 C、N、O， 成分為 C、O的異物可能來源于拋光布 、拋光輪等拋光耗材， 成分為 C、N、O的異物來源于拋光液 ；
3.3  塊狀麻點(diǎn)應(yīng)為孔洞造成的視覺效果，試樣中條狀縫隙深入基材 ~30 μm，這條縫隙是造成缺陷的原因，裂縫很有可能來源于試樣加工；
3.4  線條狀麻點(diǎn)是大面積的粉末狀與塊狀異物沾附于試樣表面造成的視覺效果 ，粉末狀異物成分中含有較多的 Fe ，推測可能由陽極線體滴落的液體凝固形成，塊狀異物成分為C、 O，與 C、O成分點(diǎn)狀麻點(diǎn)的來源一致 。



建議：可以增加清洗制程，防止拋光耗材等碎屑異物沾附產(chǎn)品表面。




優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測試,光老化測試,振動沖擊測試,IP防護(hù)等級測試,鹽霧腐蝕測試,HALT測試,sem+eds測試,清潔度測試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

• 詞條

  詞條說明

• PCBA 應(yīng)力應(yīng)變測試中如何選取較佳測試點(diǎn)？

  在 PCBA 應(yīng)力應(yīng)變測試中，選取較佳測試點(diǎn)是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵步驟。首先，考慮組件的關(guān)鍵位置。對于 PCBA 電路板來說，像 BGA（球柵陣列封裝）、QFN（四方扁平無引腳封裝）等封裝形式的芯片是重點(diǎn)關(guān)注對象。這些芯片引腳眾多且間距小，在受熱或受到外力時*出現(xiàn)應(yīng)力集中的情況。在芯片的四個角落以及中心位置附近設(shè)置測試點(diǎn)是比較合適的，因為角落往往是應(yīng)力變化比較明顯的地方，而中心位置可以幫助檢測整體

• 優(yōu)爾鴻信榮獲UL2799廢棄物零填埋認(rèn)證

  優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)（深圳）有限公司，于近日獲得UL2799廢棄物零填埋金級認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，Zero Waste to Landfill Gold Operations。UL2799認(rèn)證UL2799提出廢棄物轉(zhuǎn)換方案及計算方法標(biāo)準(zhǔn)，包含了**幾乎所有的廢棄物轉(zhuǎn)化方法。公司此次獲得的是UL2799（金級）認(rèn)證，該認(rèn)證要求廢棄物回收利用率95%以上。“從廢棄物到資源”的轉(zhuǎn)變已經(jīng)成為社會面臨的一個重要問題，因為它

• 優(yōu)爾鴻信檢測|膠帶 180° 剝離強(qiáng)度試驗的標(biāo)準(zhǔn)有哪些？

  膠帶 180° 剝離強(qiáng)度試驗的標(biāo)準(zhǔn)主要有以下幾種：GB/T 2792-1998：適用范圍：適用于單、雙面壓敏膠粘帶與不銹鋼板 180° 剝離強(qiáng)度的測定，也可用于與其他材料如 PVC、ABS、PE 等的剝離強(qiáng)度測試。試驗裝置要求：壓輥：用橡膠包覆的直徑（不包括橡膠層）約 84mm，寬度約 45mm 的鋼輪子；包覆橡膠硬度（邵爾 A 型）為 80±5，厚度約 5mm；壓輥的質(zhì)量為 2000g±50g。

• 優(yōu)爾鴻信檢測|SI信號完整性測試常見問題及解決辦法？

  以下是 SI 信號完整性測試中的常見問題及解決辦法：信號反射問題：當(dāng)傳輸線的特征阻抗與信號的源端阻抗或負(fù)載阻抗不匹配時，信號會發(fā)生反射，導(dǎo)致信號波形出現(xiàn)過沖、下沖和振鈴現(xiàn)象，影響系統(tǒng)時序.解決辦法：進(jìn)行阻抗匹配，設(shè)計傳輸線時確保特性阻抗與源 / 負(fù)載阻抗一致；在接收端或源端加終端電阻吸收反射信號；優(yōu)化 PCB 布局，減少傳輸線的不連續(xù)性.串?dāng)_問題：信號在傳輸線上傳輸時，因電磁能量通過互容和互感耦合