探傷試驗也稱為探傷檢測,是指探測金屬材料或部件內(nèi)部的裂紋或缺陷。
探傷試驗常用的探傷方法有:X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷(著色探傷)、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷等方法。
其中:
磁粉探傷:
它的基本原理是:當工件磁化時,若工件表面有缺陷存在,由于缺陷處的磁阻增大而產(chǎn)生漏磁,形成局部磁場,磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置,從而判斷缺陷的存在。磁粉探傷是用來檢測鐵磁性材料表面和近表面缺陷的種檢測方法。
超聲波探傷:
超聲波在介質(zhì)中傳播時有多種波型,檢驗中較常用的為縱波、橫波、表面波和板波。用縱波可探測金屬鑄錠、坯料、中厚板、大型鍛件和形狀比較簡單的制件中所存在的夾雜物、裂縫、縮管、白點、分層等缺陷;用橫波可探測管材中的周向和軸向裂縫、劃傷、焊縫中的氣孔、夾渣、裂縫、未焊透等缺陷;用表面波可探測形狀簡單的制件上的表面缺陷;用板波可探測薄板中的缺陷。
X射線探傷:
電離作用 x射線或其它射線(例如γ射線)通過物質(zhì)被吸收時,可使組成物質(zhì)的分子分解成為正負離子,稱為電離作用,離子的多少和物質(zhì)吸收的X射線量成正比。通過空氣或其它物質(zhì)產(chǎn)生電離作用,利用儀表測量電離的程度就可以計算x射線的量。檢測設(shè)備正是由此來實現(xiàn)對零件探傷檢測的。X射線還有其他作用,如感光、熒光作用等。
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